JJG 77-1983
干涉显微镜检定规程

Verification Regulation of Interference Microscope

JJG 77-1983 中，可能用到以下仪器设备

 

徕卡Leica DCM 3D白光共焦干涉显微镜

徕卡Leica DCM 3D白光共焦干涉显微镜

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

Leica DCM 3D白光共焦干涉显微镜

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

Andor科学级背照sCMOS相机Sona 2.0B-11

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牛津仪器（上海）有限公司

 

海洋光学薄膜反射光谱仪系统NanoCalc

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海洋光学亚洲公司

 

NanoCalc薄膜反射光谱仪系统

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海洋光学亚洲公司

 

JJG 77-1983

标准号
JJG 77-1983
发布
1983年
发布单位
国家计量检定规程
 
 
代替标准
JJG 77-2006

JJG 77-1983相似标准

GB/T 4167-1984 1-5等砝码 CH 8004-1991 三等标准金属线纹尺 JB/T 9345-1999 五级金属线纹米尺 JB/T 9342-1999 光学计量仪器用测帽 GB/T 15861-1995 离子束蚀刻机通用技术条件

JJG 77-1983 中可能用到的仪器设备

工业显微镜/工具显微镜 数码显微镜 生物显微镜 显微镜附件 白光干涉测厚仪 超净工作台 教学仪器


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