5.分析方法参考标准 ASTM E1078-2009 表面分析中试样制备和安装程序的标准指南 ASTM E1504-2011 次级离子质谱(SIMS)测定中质谱数据报告的标准规范 ASTM E1829-2009 先于表面分析的样品处置标准指南 ...
3.标准承研单位概况中国电子科技集团公司第四十六研究所拥有两台二次离子质谱仪,是国内唯一家能够提供全面的二次离子质谱测试技术的单位,有丰富的操作、试验经验,可以为《氮化镓材料中镁含量的测定二次离子质谱法》标准的制定提供充分的验证报告。公司拥有一批高素质的专业人才,曾制(修)订定二次离子质谱相关的标准10余项,有丰富的制(修)订标准的经验。...
主要包括电感耦合等离子体质谱ICP-MS和飞行时间二次离子质谱法TOF-SIMS(1) 电感耦合等离子体质谱(inductively coupled plasma mass spectrometry, ICP-MS)ICP-MS是利用电感耦合等离子体作为离子源的一种元素质谱分析方法;该离子源产生的样品离子经质谱的质量分析器和检测器后得到质谱;检出限低(多数元素检出限为ppb-ppt级);线性范围宽...
主要包括电感耦合等离子体质谱ICP-MS和飞行时间二次离子质谱法TOF-SIMS(1) 电感耦合等离子体质谱(inductively coupled plasma mass spectrometry, ICP-MS)ICP-MS是利用电感耦合等离子体作为离子源的一种元素质谱分析方法;该离子源产生的样品离子经质谱的质量分析器和检测器后得到质谱;检出限低(多数元素检出限为ppb-ppt级);线性范围宽(...
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