ISO/CD 17297
微束分析“聚焦离子束在 TEM 样品制备中的应用”词汇

Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 ISO/CD 17297 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

 

标准号
ISO/CD 17297
发布
1980年
发布单位
国际标准化组织
 
 

ISO/CD 17297相似标准


推荐

聚焦离子束显微镜FIB都有哪些功能?

传统制备TEM样品方法是机械切片研磨,用这种方法只能分析大面积样品。采用聚焦离子束则可以对样品某一局部切片进行观察。与切割横截面的方法一样,制作TEM样品是利用聚焦离子束从前后两个方向加工,最后中间留下一个薄区域作为TEM观察样品。下图所示为TEM制样工艺过程。...

聚焦离子束显微镜(FIB)机台和测试方法简介

,以离子束能量分解有机金属蒸汽或气相绝缘材料,局部区域作导体或非导体沉积,可供金属和氧化层沉积高分辨扫描电镜,SEM高分辨图像保证高精密终点探测,利用即时FIB图像实现Section-View功能可以显示截面的轮廓图制备透射电镜(TEM样品配备EDX可进行样品元素组分半定量测量应用案例:案例一,精细切割及材料蒸镀:图1为利用聚焦离子束系统素玻璃上分别进行镓离子精细切割及钨离子镀膜图形...

聚焦离子束(FIB)直写技术研究

FIB 加工系统,来自液态金属离子源离子束经过加速、质量分析、整形等处理后, 聚焦样品表面。离子束斑直径目前已可达到几个纳米,其加工方式为将高能离子束聚焦样品表面逐点轰击,可通过计算机控制扫描器和消隐组件来加工特定图案。东南大学机械工程学院金乾进等研究人员以实验为基础,从具体实验结果分析了各加工参数对刻蚀结果影响,主要讨论纳图形加工过程,FIB 系统工作参数对刻蚀结构影响。...

聚焦离子束系统知多少?

聚焦离子束加工系统,来自离子源离子束经过加速、质量分析、整形等处理后,聚焦样品表面,离子束斑直径目前已可达到几个纳米,其加工方式为将高能离子束聚焦样品表面逐点轰击,可通过计算机控制扫描器和消隐组件来加工特定图案。1聚焦离子束系统结构及工作原理聚焦离子束系统是用聚焦离子束代替扫描电镜(SEM)及透射电镜(TEM)中所用质量很小电子作为仪器光源显微分析加工系统。...


ISO/CD 17297 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号