XPS技术主要用于表征纳米材料表面的化学组分、原子排列以及电子状态等信息。利用X射线光电子能谱(XPS)对表面元素做出一次性的定性和定量分析,并通过离子束溅射获得元素深度的化学成分分布信息,利用高空间分辨率进行微区选点分析、线扫描分析以及元素面分布分析。电子能谱技术是应用于微电子器件、催化剂、材料保护、表面改性以及功能薄膜材料等方面表面分析和价态分析的重要分析方法。...
本文采用离子氮化技术对铀进行预处理,采用磁控溅射技术在铀和氮化铀表面镀Ti薄膜进行对比,利用扫描电子显微镜、X射线衍射、X射线光电子能谱、俄歇电子能谱等对薄膜和膜基界面进行物相和元素分析,对氮化预处理对于膜基结合的影响进行研究。为了检验薄膜的抗腐蚀能力和膜基结合强度,对样品进行了电化学分析和压痕分析。对离子氮化后的样品进行X射线衍射分析,结果表明表面主要为三氮化二铀。...
利用X射线光电子能谱(XPS)对表面元素做出一次性的定性和定量分析,并通过离子束溅射获得元素深度的化学成分分布信息,利用高空间分辨率进行微区选点分析、线扫描分析以及元素面分布分析。电子能谱技术是应用于微电子器件、催化剂、材料保护、表面改性以及功能薄膜材料等方面表面分析和价态分析的重要分析方法。本报告主要介绍XPS在纳米材料表界面研究中的应用。...
通常对薄膜表面形貌和化学分析利用的俄歇电子能谱、X射线光电子能谱和二次离子质谱仪等都有着不同程度的缺点和不足,而附带X射线能谱仪(Energy Dispersive X-ray Spectrometer简称EDS)的扫描电子显微镜,是比较通常的仪器,操作比较简单,对样品的破坏性要小得多,作为一种快速无损多元素检测方法,在观测样品形貌特征的同时还可以样品微区的成分分析。 ...
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