GB/T 18032-2000
砷化镓单晶AB微缺陷检验方法
The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal
GBT18032-2000, GB18032-2000
GB/T 18032-2000 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GB/T 18032-2000
- 别名
- GBT18032-2000
GB18032-2000 - 发布
- 2000年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 18032-2000
- 本标准规定了砷化镓单晶AB微缺陷的检验方法。 本标准适用于砷化镓单晶AB微缺陷密度（AB－EPD）的检验。检验面为（100）面。测量范围小于 5 X 10<上角5> cm<上角-2>
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