GB/T 21638-2008
钢铁材料缺陷电子束显微分析方法通则
Guide for electron beam microanalysis of defect in steel materials
说明：
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- 标准号
- GB/T 21638-2008
- 发布日期
- 2008年04月11日
- 实施日期
- 2008年10月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- N53
- 国际标准分类号
- 71.040.99
- 发布单位
- CN-GB
- 引用标准
- GB/T 4340.1 GB/T 10561 GB/T 13299 GB/T 15074 GB/T 15481 GB/T 17359 GB/T 19501 JJG 550 JJG 901
- 适用范围
- 本标准规定了钢铁材料缺陷电子束显微分析的术语、分析方法和程序、分析报告内容等。 本标准适用于钢铁材料内部及表面缺陷的电子束显微分析。
GB/T 21638-2008系列标准
GB/T 21638-2008 中可能用到的仪器设备
光电直读光谱仪
原子吸收光谱仪（AAS）
金属多元素分析仪
有机元素分析仪
红外光谱仪
近红外光谱仪
感官智能分析系统
数码显微镜
材料/金相显微镜
X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪）
电化学工作站
扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM
工业显微镜/工具显微镜
光学仪器组件
电子探针X射线微区分析仪(EPMA)
扫描电镜SEM
核磁共振波谱仪
拉曼光谱仪
顺磁共振波谱仪
光学成像-CCD相机
透射电镜TEM
X射线衍射仪(XRD)
孔径分析仪/静态比表面
粘度计
差示扫描量热仪(DSC/DTA)
试验机、拉力机、万能试验机
实验室管理系统/LIMS
细胞成像/高内涵成像
在线反应分析系统
条码扫描仪
测油仪/油分浓度仪
工业分析仪
天平/电子天平/分析天平