ASTM F980M-96(2003)
测量硅半导体器件中中子感应位移故障的快速退火用标准指南(米制单位)
Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices [Metric]
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- 标准号
- ASTM F980M-96(2003)
- 发布
- 1996年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM F980-10
- 当前最新
- ASTM F980-16
- 引用标准
- ASTM E666 ASTM E720 ASTM E721 ASTM E722 ASTM F1032
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