ASTM F1996-01
薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法

Standard Test Method for Silver Migration for Membrane Switch Circuitry

被代替

ASTM F1996-01 发布历史

ASTM F1996-01由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2001。

ASTM F1996-01 在中国标准分类中归属于: L57 膜集成电路。

ASTM F1996-01的历代版本如下：

• 2014年 ASTM F1996-14 薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法
• 2006年 ASTM F1996-06 薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法
• 2001年 ASTM F1996-01 薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法
• 2000年 ASTM F1996-00 薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法

1.1 本试验方法用于测定薄膜开关在直流电压下对电路走线之间银迁移的敏感性。

1.2 当存在特殊的潮湿和电能条件时，会发生银迁移。

标准号

ASTM F1996-01

发布

2001年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM F1996-06

当前最新

ASTM F1996-14

 

 

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