ASTM F1996-14
薄膜开关电路系统银迁移的标准试验方法
Standard Test Method for Silver Migration for Membrane Switch Circuitry
- 标准号
- ASTM F1996-14
- 发布
- 2014年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM F1996-14
- 引用标准
- ASTM F1596 ASTM F1689
- 适用范围
- 1.1 本测试方法用于确定薄膜开关在直流电压下对电路走线之间银迁移的敏感性。
1.2 当存在特殊的湿度和电能条件时，会发生银迁移。