GB/T 23413-2009
纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法

Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials.X-ray diffraction line broadening method

GBT23413-2009, GB23413-2009


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GB/T 23413-2009

标准号
GB/T 23413-2009
别名
GBT23413-2009
GB23413-2009
发布
2009年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 23413-2009
 
 
引用标准
GBW(E) 130014 GBW(E) 130016
本标准规定了利用x射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。 本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm,微观应变一般不大于0. 1%的纳米材料。

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