GB/T 23413-2009由国家质检总局 CN-GB 发布于 2009-04-01,并于 2009-12-01 实施。
GB/T 23413-2009 在中国标准分类中归属于: N78 X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器,在国际标准分类中归属于: 19.100 无损检测。
本标准规定了利用x射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。 本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm,微观应变一般不大于0. 1%的纳米材料。
多晶材料是由各晶粒组成的。晶粒对材料的性能影响很大,特别是随着科学技术的发展,很多材料可在晶粒尺寸上大做文章。比如,近年来比较热门的纳米材料,当晶粒尺寸达到纳米量级,材料各方面的性能都会有很大变化。既然,晶粒尺寸很重要,那么,如何去测定晶粒尺寸呢?...
比如,近年来比较热门的纳米材料,当晶粒尺寸达到纳米量级,材料各方面的性能都会有很大变化。既然,晶粒尺寸很重要,那么,如何去测定晶粒尺寸呢?...
b.该方法获得的晶粒尺寸是平均晶粒尺寸,是不同晶面上各衍射方向晶粒度大小平均值,若需要计算某一晶面上的晶粒尺寸,可采用“计算峰面积”命令。另外,也可以利用谢乐公式计算:谢乐公式的应用方法Dc = 0.89λ /(B cos θ)(λ为X 射线波长, B为衍射峰 半高宽, θ 为衍射角)双线法(Williams-Hall)测定金属晶体中的微观应力。晶块尺寸小于0.1μm,且有不均匀应变时衍射线宽化。...
材料的微观残余应力是引起衍射线线形宽化的主要原因,因此衍射线的半高宽即衍射线最大强度一半处的宽度是描述微观残余应力的基本参数。 4 纳米材料粒径的表征 纳米材料的颗粒度与其性能密切相关。纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。 5 结晶度的测定 结晶度是影响材料性能的重要参数。...
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