ASTM E2695-09
用飞行时间二次离子质谱法说明质谱数据获取的标准指南

Standard Guide for Interpretation of Mass Spectral Data Acquired with Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy


标准号
ASTM E2695-09
发布
2009年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM E2695-09
 
 
引用标准
ASTM E1078 ASTM E1504 ASTM E1635 ASTM E673 ISO 18116 ISO 23830
适用范围
由于获得的数据的复杂性和密度,静态 SIMS 质谱数据的解释可能会很复杂,因此,当用户的数据解释方法不一致时,经常会发生变化。本指南旨在通过讨论最重要的内容来帮助避免这些不一致。静态 SIMS 分析中常见的场景以及如何处理这些场景。本指南可用作员工或学生或两者的培训指南。
1.1 本指南为飞行时间二次离子质谱 (ToF-SIMS) 用户提供一种质谱数据解释形式的方法。本指南适用于大多数 ToF-SIMS 仪器,并且可能适用也可能不适用于其他形式的二次图标质谱 (SIMS)。
1.2 本指南无意讨论样品制备方法。用户有责任遵守严格的样品制备程序,以最大限度地减少污染并优化信号。有关样品制备指南,请参阅指南 E1078 和 ISO 18116。
1.3 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.4 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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ASTM E2695-09 中可能用到的仪器设备





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