GOST R 8.698-2010
确保测量一致性的国家体系.纳米粒子和薄膜的空间参数.利用小角度X-射线散射衍射仪的测量方法

State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer


 

 

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标准号
GOST R 8.698-2010
发布
2010年
发布单位
RU-GOST R
当前最新
GOST R 8.698-2010
 
 
引用标准
GOST 12.1.005-1988 GOST 12.1.045-1984

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