GOST R 8.698-2010
确保测量一致性的国家体系.纳米粒子和薄膜的空间参数.利用小角度X-射线散射衍射仪的测量方法
State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
GOST R 8.698-2010 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- GOST R 8.698-2010
- 发布
- 2010年
- 发布单位
- RU-GOST R
- 当前最新
- GOST R 8.698-2010
- 引用标准
- GOST 12.1.005-1988 GOST 12.1.045-1984
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