ISO/TS 24597:2011
微光束分析.扫描电子显微镜检查法.图像清晰度评价法
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Methods of evaluating image sharpness
ISO/TS 24597:2011 中，可能用到以下仪器
ISO/TS 24597:2011相似标准
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原子力显微镜的原理及其应用
它主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。afm测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。...
原子力显微镜测形貌像之外什么像
AFM主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像。 AFM广泛应用于材料科学中，是一种非常重要的表面表征技术。...
AFM简谈
微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像。AFM广泛应用于材料科学中，是一种非常重要的表面表征技术。除了进行形貌观察，AFM还可以用来测量物质和材料表面原子间的作用力，表面弹性、塑性、硬度、粘着力、摩擦力等性质。度、步宽、方框图或颗粒度分析。...
集成电路失效分析步骤
1、开封前检查，外观检查，X光检查，扫描声学显微镜检查。2、开封显微镜检查。3、电性能分析，缺陷定位技术、电路分析及微探针分析。4、物理分析，剥层、聚焦离子束(FIB)，扫描电子显微镜(SEM)，透射电子显微镜(SEM)、VC定位技术。一、无损失效分析技术1、外观检查，主要凭借肉眼检查是否有明显缺陷，如塑脂封装是否开裂，芯片引脚是否接触良好。...