GB/T 5594.8-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure
GBT5594.8-1985, GB5594.8-1985
GB/T 5594.8-1985 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GB/T 5594.8-1985
- 别名
- GBT5594.8-1985
GB5594.8-1985 - 发布
- 1985年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 5594.8-2015
- 当前最新
- GB/T 5594.8-2015
- 本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
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