SJ/T 11500-2015
碳化硅单晶晶向的测试方法

Test method for measuring crystallographic orientation of monocrystalline silicon carbide

SJT11500-2015, SJ11500-2015


SJ/T 11500-2015 中，可能用到以下仪器设备

 

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SJ/T 11500-2015
标准号
SJ/T 11500-2015
别名
SJT11500-2015
SJ11500-2015
发布
2015年
发布单位
行业标准-电子
当前最新
SJ/T 11500-2015
 
 
本标准规定了利用X射线衍射定向法测定碳化硅单晶晶向的方法。本标准适用于晶型为6H和4H的碳化硅单晶的晶向测定。

SJ/T 11500-2015相似标准

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SJ/T 11500-2015 中可能用到的仪器设备

X射线衍射仪(XRD) X射线散射仪 X射线定向仪 X射线探测装置 其它物性测试仪器


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