表面化学分析. X射线光电子能谱学. 二氧化硅厚度测量 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
后来他们又将此项技术用于化学分析的电子能谱。凯.西格班开创了一种新的分析方法—X射线光电子能谱学XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy),或化学分析电子能谱学ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。...
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