BS ISO 14701:2018
跟踪更改 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
BS ISO 14701:2018 发布历史
BS ISO 14701:2018由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2018-11-05，并于 2018-11-05 实施。
BS ISO 14701:2018 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。
BS ISO 14701:2018 发布之时，引用了标准
- ISO 18115-1 表面化学分析词汇第1部分：通用术语和光谱学中使用的术语*， 2023-06-01 更新
- ISO 18116 表面化学分析.分析用试样的制备和装配指南
- ISO/IEC GUIDE 98-3:2008 测量的不确定性.第3部分:测量不确定性的表达指南(GUM-1995)
- ISO/TR 18392 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序
* 在 BS ISO 14701:2018 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
BS ISO 14701:2018的历代版本如下：
- 2018年 BS ISO 14701:2018 跟踪更改 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
- 2011年 BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
- 标准号
- BS ISO 14701:2018
- 发布
- 2018年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS ISO 14701:2018
- 引用标准
- GUM-1995 ISO 18115-1 ISO 18116 ISO/IEC GUIDE 98-3:2008 ISO/TR 18392
- 被代替标准
- BS ISO 14701:2011
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