ZH

EN

KR

JP

ES

RU

So kalibrieren Sie XPS

Für die So kalibrieren Sie XPS gibt es insgesamt 96 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst So kalibrieren Sie XPS die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Glasfaserkommunikation, Optik und optische Messungen, Papier und Pappe, Umweltschutz, Messung von Volumen, Masse, Dichte und Viskosität, Aufschlag, Baugewerbe, Gebäude, Längen- und Winkelmessungen, Metrologie und Messsynthese, Maschinensicherheit, Mechanischer Test, Wortschatz.


US-CFR-file, So kalibrieren Sie XPS

  • CFR 20-702.243-2015 Leistungen für Mitarbeiter. Teil 702: Verwaltung und Verfahren. Unterabschnitt B: Schadensregulierungsverfahren. Abschnitt 702.243: Vergleichsantrag; wie eingereicht, wie genehmigt, wie abgelehnt, Kriterien.
  • CFR 1-51.5-2014 Allgemeine Bestimmungen. Teil 51: Einbeziehung durch Verweis. Abschnitt 51.5: Wie beantragt eine Agentur eine Genehmigung?
  • CFR 33-148.702-2013 Schifffahrt und schiffbare Gewässer. Teil 148: Tiefseehäfen: Allgemeines. Abschnitt 148.702: Wie wurden die Umweltprüfungskriterien entwickelt?
  • CFR 33-148.110-2013 Schifffahrt und schiffbare Gewässer. Teil 148: Tiefseehäfen: Allgemeines. Abschnitt 148.110: Wie bereite ich meine Bewerbung vor?
  • CFR 33-148.709-2013 Schifffahrt und schiffbare Gewässer. Teil 148: Tiefseehäfen: Allgemeines. Abschnitt 148.709: Wie werden diese Kriterien überprüft und überarbeitet?
  • CFR 7-54.6-2014 Landwirtschaft. Teil 54: Fleisch, zubereitetes Fleisch und Fleischprodukte (Einstufung, Zertifizierung und Standards). Unterabschnitt A: Vorschriften. Abschnitt 54.6: So erhalten Sie den Service.
  • CFR 21-803.23-2014 Lebensmittel und Medikamente. Teil 803: Meldung von Medizinprodukten (Eff. 14.08.15). Abschnitt 803.23: Wo finde ich Informationen zur Erstellung und Einreichung eines MDR im elektronischen Format?

The Society for Protective Coatings (SSPC), So kalibrieren Sie XPS

SSPC - The Society for Protective Coatings, So kalibrieren Sie XPS

  • CHAPTER 1-2004 SO VERWENDEN SIE SSPC-STANDARDS@ SPEZIFIKATIONEN@ UND LEITFADEN

American Society for Testing and Materials (ASTM), So kalibrieren Sie XPS

  • ASTM E2735-13 Standardhandbuch für die Auswahl der für Röntgen-Photoelektronenspektroskopie-Experimente (XPS) erforderlichen Kalibrierungen

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), So kalibrieren Sie XPS

  • KS C IEC 61745-2001(2021) Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern – Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern
  • KS C IEC 61745-2001(2016) Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern – Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern
  • KS I ISO 14047:2010 Umweltmanagement – Bewertung der Auswirkungen auf den Lebenszyklus – Anwendungsbeispiele von KS I ISO 14044
  • KS I ISO 14047:2014 Umweltmanagement – Ökobilanz – Anschauliche Beispiele für die Anwendung von KS I ISO 14044 auf Folgenabschätzungssituationen
  • KS B ISO 12179-2014(2019) Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
  • KS B ISO 12179:2004 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
  • KS B ISO 12179:2014 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).

American National Standards Institute (ANSI), So kalibrieren Sie XPS

  • ANSI/TAPPI T1218 sp-2012 Kalibrierung von Reflexionsstandards für halbkugelförmige Geometrie
  • ANSI/TIA-455-225-2002 FOTP225 – Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern
  • ANSI/TIA/EIA 455-225-2002 FOTP225 – Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern

International Organization for Standardization (ISO), So kalibrieren Sie XPS

  • ISO/TR 14073:2017 Umweltmanagement – Wasser-Fußabdruck – Anschauliche Beispiele zur Anwendung von ISO 14046
  • ISO/CD 5861 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methode der Intensitätskalibrierung für monochromatische Al Kα XPS-Instrumente mit Quarzkristall
  • ISO/DIS 5861:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methode der Intensitätskalibrierung für monochromatische Al Kα XPS-Instrumente mit Quarzkristall
  • ISO/TR 14047:2012 Umweltmanagement – Ökobilanz – Anschauliche Beispiele für die Anwendung von ISO 14044 auf Folgenabschätzungssituationen
  • ISO 12179:2021 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
  • ISO 12179:2000 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
  • ISO 11952:2019 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
  • ISO 11952:2014 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
  • ISO 25178-701:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 701: Kalibrier- und Messstandards für Kontaktinstrumente (Stiftinstrumente).
  • ISO 12179:2000/cor 1:2003 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten); Technische Berichtigung 1

CZ-CSN, So kalibrieren Sie XPS

  • CSN 99 6423-1988 Vertikale zylindrische Tanks. Kalibrierung durch geometrische Methoden. Überprüfung

Danish Standards Foundation, So kalibrieren Sie XPS

  • DS/EN 15221-2:2008 Facility Management – Teil 2: Anleitung zur Erstellung von Facility Management-Verträgen
  • DS/ISO/TR 22100-1:2021 Sicherheit von Maschinen – Zusammenhang mit ISO 12100 – Teil 1: Wie sich ISO 12100 auf Typ-B- und Typ-C-Normen bezieht
  • DS/EN ISO 12179/Corr. 1:2007 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Oberflächentextur: Profilmethode - Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
  • DS/EN ISO 12179:2000 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Oberflächentextur: Profilmethode - Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
  • DS/CEN ISO/TR 22100-1:2021 Sicherheit von Maschinen – Zusammenhang mit ISO 12100 – Teil 1: Wie sich ISO 12100 auf Typ-B- und Typ-C-Normen bezieht (ISO/TR 22100-1:2021)
  • DS/EN ISO 25178-701:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 701: Kalibrier- und Messstandards für Kontaktinstrumente (Stiftinstrumente).

Lithuanian Standards Office , So kalibrieren Sie XPS

  • LST EN 15221-2-2007 Facility Management – Teil 2: Anleitung zur Erstellung von Facility Management-Verträgen
  • LST EN ISO 12179:2001 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten) (ISO 12179:2000)
  • LST EN ISO 12179:2001/AC:2008 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten) (ISO 12179:2000/Cor 1:2003)
  • LST EN ISO 25178-701:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 701: Kalibrier- und Messstandards für Kontaktinstrumente (Stiftinstrumente) (ISO 25178-701:2010)

AENOR, So kalibrieren Sie XPS

  • UNE-EN 15221-2:2012 Facility Management – Teil 2: Anleitung zur Erstellung von Facility Management-Verträgen
  • UNE 208003-003:2003 IN Richtlinien zur Verwendung von reflexionsarmen Gehäusen, die die Anforderungen hinsichtlich der normalisierten Standortdämpfung für Vorab-Konformitätstests von Produkten nicht erfüllen.
  • UNE-EN ISO 12179:2001 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten). (ISO 12179:2000)
  • UNE-EN ISO 25178-701:2011 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 701: Kalibrier- und Messstandards für Kontaktinstrumente (Stiftinstrumente) (ISO 25178-701:2010)

Association Francaise de Normalisation, So kalibrieren Sie XPS

  • NF E11-018:2003 Geometrische Produktspezifikation (GPS) – Kalibrierproben – Stopfen mit Rillen.
  • NF C93-809*NF EN 61745:2018 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern
  • NF E05-056*NF EN ISO 12179:2022 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Oberflächentextur: Profilmethode - Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
  • NF EN ISO 12179:2022 Geometrische Spezifikation der Produkte (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Profilmethode – Berührungsberührung (Palpeur)
  • NF E05-056:2000 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
  • NF EN ISO 25178-701:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Oberfläche – Teil 701: Kalibrierungs- und Messstandards für Kontaktinstrumente
  • NF E05-031-701*NF EN ISO 25178-701:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: flächig – Teil 701: Kalibrierungs- und Messstandards für Kontaktinstrumente (Stiftinstrumente).

British Standards Institution (BSI), So kalibrieren Sie XPS

  • BS IEC 61745:1998 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern
  • BS IEC 61745:1999 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern
  • BS PD CEN ISO/TR 22100-1:2017 Sicherheit von Maschinen – Zusammenhang mit ISO 12100. Teil 1: Wie sich ISO 12100 auf Typ-B- und Typ-C-Normen bezieht (ISO/TR 22100-1:2015)
  • BS EN ISO 12179:2022 Geometrische Produktspezifikationen (GPS). Oberflächenbeschaffenheit: Profilmethode. Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
  • BS EN ISO 5436-1:2001 Geometrische Produktspezifikationen (GPS). Oberflächenbeschaffenheit: Profilmethode; Messstandards. Geometrische Produktspezifikationen (GPS). Oberflächentextur. Kalibrierung der Profilmethode. Messstandards
  • PD 6591:1996 Richtlinien zur Verwendung von reflexionsarmen Gehäusen, die die Anforderungen hinsichtlich der normalisierten Standortdämpfung für Vorab-Konformitätstests von Produkten nicht erfüllen
  • BS EN ISO 25178-701:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit – Fläche – Kalibrierungs- und Messstandards für Kontaktinstrumente (Stiftinstrumente).
  • BS EN ISO 12179:2001 Geometrische Produktspezifikationen (GPS). Oberflächentextur. Profilmethode. Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
  • BS ISO 11952:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
  • 20/30397768 DC BS EN ISO 12179. Geometrische Produktspezifikationen (GPS). Oberflächenbeschaffenheit: Profilmethode. Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
  • BS EN ISO 25178-700:2023 Geometrische Produktspezifikationen (GPS). Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Kalibrierung, Justierung und Überprüfung von Messgeräten für die flächige Topographie
  • BS EN 61745:2017 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern – Teil 1: Einführung und Roadmap für die Standardisierung
  • BS ISO 16531:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, So kalibrieren Sie XPS

  • JJF 1130-2005 Leitfaden zur Schätzung der Unsicherheit bei der Kalibrierung geometrischer Messgeräte

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), So kalibrieren Sie XPS

  • JIS C 6828:2004 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern

ES-UNE, So kalibrieren Sie XPS

  • UNE-CEN ISO/TR 22100-1:2021 Sicherheit von Maschinen – Zusammenhang mit ISO 12100 – Teil 1: Wie sich ISO 12100 auf Typ-B- und Typ-C-Normen bezieht (ISO/TR 22100-1:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im März 2021.)
  • UNE-EN 61745:2017 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern (im Dezember 2017 von der spanischen Normungsvereinigung gebilligt).
  • UNE-EN ISO 12179:2023 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten) (ISO 12179:2021)

German Institute for Standardization, So kalibrieren Sie XPS

  • DIN CEN ISO/TR 22100-1:2021-09 Sicherheit von Maschinen – Zusammenhang mit ISO 12100 – Teil 1: Wie sich ISO 12100 auf Typ-B- und Typ-C-Normen bezieht (ISO/TR 22100-1:2021); Deutsche Fassung CEN ISO/TR 22100-1:2021
  • DIN EN 61745:2018-06 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern (IEC 61745:2017); Deutsche Fassung EN 61745:2017
  • DIN EN ISO 12179:2023-04 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten) (ISO 12179:2021); Deutsche Fassung EN ISO 12179:2022
  • DIN EN ISO 12179:2000 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten) (ISO 12179:2000); Deutsche Fassung EN ISO 12179:2000
  • DIN EN ISO 12179:2023 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten) (ISO 12179:2021)
  • DIN EN ISO 25178-701:2011-01 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 701: Kalibrier- und Messstandards für Kontaktinstrumente (Stiftinstrumente) (ISO 25178-701:2010); Deutsche Fassung EN ISO 25178-701:2010

European Committee for Standardization (CEN), So kalibrieren Sie XPS

  • EN ISO/TR 22100-1:2017 Sicherheit von Maschinen – Zusammenhang mit ISO 12100 – Teil 1: Wie sich ISO 12100 auf Typ-B- und Typ-C-Normen bezieht
  • EN ISO/TR 22100-1:2021 Sicherheit von Maschinen – Zusammenhang mit ISO 12100 – Teil 1: Wie sich ISO 12100 auf Typ-B- und Typ-C-Normen bezieht
  • CEN ISO/TR 22100-1:2021 Sicherheit von Maschinen – Zusammenhang mit ISO 12100 – Teil 1: Wie sich ISO 12100 auf Typ-B- und Typ-C-Normen bezieht (ISO/TR 22100-1:2021)
  • EN ISO 12179:2022 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten) (ISO 12179:2021)
  • EN ISO 12179:2000 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).
  • FprEN ISO 12179:2021 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten) (ISO/FDIS 12179:2021)
  • EN ISO 25178-701:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 701: Kalibrier- und Messstandards für Kontaktinstrumente (Stiftinstrumente) (ISO 25178-701:2010)

CEN - European Committee for Standardization, So kalibrieren Sie XPS

  • CEN ISO/TR 22100-1:2017 Sicherheit von Maschinen – Zusammenhang mit ISO 12100 – Teil 1: Wie sich ISO 12100 auf Typ-B- und Typ-C-Normen bezieht

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), So kalibrieren Sie XPS

  • EN 61745:2017 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern

Association of German Mechanical Engineers, So kalibrieren Sie XPS

RU-GOST R, So kalibrieren Sie XPS

  • GOST R 56269-2014 Umweltmanagement. Ökobilanz. Anschauliche Beispiele für die Anwendung von ISO 14044 auf Folgenabschätzungssituationen
  • GOST R 56270-2014 Umweltmanagement. Ökobilanz. Anschauliche Beispiele für die Anwendung von ISO 14044 auf die Ziel- und Umfangsdefinition sowie die Bestandsanalyse

International Electrotechnical Commission (IEC), So kalibrieren Sie XPS

  • IEC 61745:1998 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern
  • IEC 61745:2017 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern

未注明发布机构, So kalibrieren Sie XPS

  • DIN EN 61745 E:2017-01 Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern

(U.S.) Telecommunications Industries Association , So kalibrieren Sie XPS

  • TIA/EIA-455-225-2002 FOTP-225 IEC-61745 Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern
  • TIA-455-225-2015 FOTP-225 IEC-61745 Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Testsätzen für die Geometrie optischer Fasern

AT-ON, So kalibrieren Sie XPS

  • ONR CEN ISO/TR 22100-1:2021 Sicherheit von Maschinen – Zusammenhang mit ISO 12100 – Teil 1: Wie sich ISO 12100 auf Typ-B- und Typ-C-Normen bezieht (ISO/TR 22100-1:2021)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, So kalibrieren Sie XPS

  • GB/T 19600-2004 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten).

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, So kalibrieren Sie XPS

  • GB/T 33523.701-2017 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 701: Kalibrierungs- und Messstandards für Kontaktinstrumente (Stiftinstrumente).




©2007-2024Alle Rechte vorbehalten