Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

Für die Die Auflösung eines Elektronenmikroskops gibt es insgesamt 173 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Die Auflösung eines Elektronenmikroskops die folgenden Kategorien: Optik und optische Messungen, analytische Chemie, Optische Ausrüstung, Luftqualität, Wortschatz, Nichteisenmetalle, Optoelektronik, Lasergeräte, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, erziehen, Thermodynamik und Temperaturmessung, Prüfung von Metallmaterialien, Längen- und Winkelmessungen, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Umfangreiche elektronische Komponenten, Fluidsysteme und Komponenten für die Luft- und Raumfahrt, medizinische Ausrüstung, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Physik Chemie, Elektronische Anzeigegeräte, Kriminalprävention, Verbundverstärkte Materialien, Kernenergietechnik, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Rohstoffe für Gummi und Kunststoffe, Baumaterial, Stahlprodukte, Schmierstoffe, Industrieöle und verwandte Produkte.

Professional Standard - Machinery, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

JB/T 5585-1991 Testmethode für die Auflösung eines Transmissionselektronenmikroskops
JB/T 5586-1991 Klassifizierung und Grundparameter des Transmissionselektronenmikroskops

British Standards Institution (BSI), Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

BS ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
20/30380369 DC BS ISO 23420. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
BS ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
21/30412880 DC BS ISO 23729. Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Oberflächencharakterisierung. Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
23/30420097 DC BS ISO 23124 Oberflächenchemische Analyse. Messung der lateralen und axialen Auflösung des Raman-Mikroskops
BS ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
PD IEC TS 62607-9-1:2021 Nanofertigung. Wichtige Kontrollmerkmale. Rückverfolgbare ortsaufgelöste nanoskalige Streumagnetfeldmessungen. Magnetkraftmikroskopie
BS ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
19/30351707 DC BS ISO 21222. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
21/30404763 DC BS ISO 24639. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 20263:2017 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Grenzflächenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
BS ISO 13794:1999 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie

International Organization for Standardization (ISO), Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO/CD 25498:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO/CD 19214:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 15932:2013 Mikrostrahlanalyse.Analytische Elektronenmikroskopie.Wortschatz
ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 19214:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO/DIS 23124:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösung des Raman-Mikroskops
ISO/FDIS 23124:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösung eines Raman-Mikroskops
ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 11884-2:2007 Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
ISO 11884-1:2006 Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 1: Stereomikroskope für den allgemeinen Gebrauch
ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Oberflächencharakterisierung – Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode
ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
ISO 21363:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse durch Elektronenenergieverlustspektroskopie
ISO/CD 20263:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Grenzflächenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
ISO 13794:1999 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 10312:1995 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 20263:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Grenzflächenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie

Association Francaise de Normalisation, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

NF ISO 15932:2014 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Wortschatz
NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF T16-404:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF T25-111-4:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 4: Fraktographie mittels Rasterelektronenmikroskop

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

GB/Z 21738-2008 Grundlegende Strukturen eindimensionaler Nanomaterialien. Charakterisierung durch hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie
GB/T 18907-2002 Methode der Elektronenbeugung ausgewählter Flächen für Transmissionselektronenmikroskope
GB/T 18907-2013 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Selektierte Elektronenbeugungsanalyse unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
GB/T 31227-2014 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop für gesputterte Dünnfilme
GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erdöl- und Gaslagerstätten mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 32189-2015 Rasterkraftmikroskopische Untersuchung der Oberflächenrauheit von Galliumnitrid-Einkristallsubstraten
GB/T 18873-2002 Allgemeine Spezifikation des Transmissionselektronenmikroskops (TEM) – quantitative Mikroanalyse mit röntgenenergiedispersivem Spektrum (EDS) für dünne biologische Proben
GB/T 18873-2008 Allgemeiner Leitfaden zur quantitativen Mikroanalyse mit Transmissionselektronenmikroskop (TEM) und energiedispersiver Röntgenspektrometrie (EDS) für dünne biologische Proben

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D 2713-2006 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D 2713-2016 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D 2713-2016(2021) Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS B ISO 11884-2:2011 Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
KS P ISO 10936-2:2020 Optik und Photonik – Operationsmikroskope – Teil 2: Lichtgefährdung durch Operationsmikroskope, die in der Augenchirurgie eingesetzt werden
KS D 2716-2008 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D 2716-2008(2018) Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS B ISO 19012-1-2016(2021) Optik und Photonik – Bezeichnung von Mikroskopobjektiven – Teil 1: Feldebene/Plan
KS I ISO 10312:2008 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
KS I ISO 13794:2008 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
KS I ISO 10312-2008(2018) Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie

KR-KS, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS P ISO 10936-2-2020 Optik und Photonik – Operationsmikroskope – Teil 2: Lichtgefährdung durch Operationsmikroskope, die in der Augenchirurgie eingesetzt werden
KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D 2716-2023 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS B ISO 19012-1-2016 Optik und Photonik – Bezeichnung von Mikroskopobjektiven – Teil 1: Feldebene/Plan

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
JIS K 3850-3:2000 Messmethode für luftgetragene Faserpartikel – Teil 3: Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
JIS K 3850-2:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 2: Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie-Verfahren

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben
GB/T 32262-2015 Vorbereitung einer Desoxyribonukleinsäureprobe für die Rasterkraftmikroskopmessung

RU-GOST R, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

GOST 15114-1978 Teleskopsystem für optische Geräte. Visuelle Methode zur Bestimmung der Auflösungsgrenzen
GOST R ISO 27911-2015 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope

Association of German Mechanical Engineers, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

DVS 2803-1974 Elektronenstrahlschweißen in der Mikroskopie (Umfrage)

Professional Standard - Education, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

JY/T 0581-2020 Allgemeine Regeln für Analysemethoden der Transmissionselektronenmikroskopie
JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

GB/T 35098-2018 Mikrostrahlanalyse – Transmissionselektronenmikroskopie – Morphologische Identifizierungsmethode von Pflanzenviren durch Transmissionselektronenmikroskopie

German Institute for Standardization, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022

Group Standards of the People's Republic of China, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
T/GDAQI 94-2022 Bewertungsmethode für die Grenzauflösung medizinischer elektronischer Endoskope
T/GDASE 0008-2020 Bestimmung des Elastizitätsmoduls von Graphenfilmen
T/CSTM 00166.3-2020 Charakterisierung von Graphenmaterialien Teil 3 Transmissionselektronenmikroskop

工业和信息化部, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

YB/T 4676-2018 Analyse ausgefällter Phasen in Stahl mittels Transmissionselektronenmikroskopie

American Society for Testing and Materials (ASTM), Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

ASTM E2382-04(2020) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2859-11(2017) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E285-08(2015) Standardtestmethode für die Oxyacetylen-Ablationsprüfung von Wärmedämmmaterialien
ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2859-11(2023) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2859-11 Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E3143-18a Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E3143-18 Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E3143-18b Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM D3849-02 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM D3849-04 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM D3849-13 Standardtestmethode für Rußmdash; Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM D3849-14 Standardtestmethode für Rußmdash; Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM D7416-08 Standardpraxis für die Analyse von Schmierstoffen im Betrieb unter Verwendung eines bestimmten Fünfteilers (dielektrische Permittivität, zeitaufgelöste dielektrische Permittivität mit wechselnden Magnetfeldern, Laserpartikelanzahl).
ASTM D3849-95a(2000) Standardtestmethode für Ruß – Primäraggregatabmessungen aus elektronenmikroskopischer Bildanalyse
ASTM D3849-07 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM D3849-22 Standardtestmethode für Ruß – Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM E3143-18b(2023) Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E2142-08(2015) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08(2023) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

IPC TM-650 2.6.22-1995 Akustische Mikroskopie für kunststoffverkapselte elektronische Komponenten

Professional Standard - Petroleum, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben

国家能源局, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben

International Electrotechnical Commission (IEC), Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

IEC PAS 62191:2000 Akustische Mikroskopie für nichthermetisch gekapselte elektronische Komponenten
IEC TS 62607-9-1:2021 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 9-1: Rückverfolgbare ortsaufgelöste nanoskalige Streumagnetfeldmessungen – Magnetkraftmikroskopie

Society of Automotive Engineers (SAE), Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

SAE ARP598C-2003 (R) Mikroskopische Größenbestimmung und Zählung der Partikelverunreinigung in der Luft- und Raumfahrt für Fluidtechniksysteme

Danish Standards Foundation, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

DS/ISO 10936-2:2010 Optik und Photonik – Operationsmikroskope – Teil 2: Lichtgefährdung durch Operationsmikroskope in der Augenchirurgie
DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

Professional Standard - Nuclear Industry, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

EJ/T 20176-2018 Rasterkraftmikroskop-Messmethode zur Kantenschärfe von Diamantwerkzeugen

European Committee for Standardization (CEN), Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)

SE-SIS, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

SPB-M2-1-2007 Mittels Rasterkraftmikroskopie untersuchte Grenzflächen- und rheologische Eigenschaften von Asphaltenen.

IT-UNI, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

UNI 7604-1976 Elektronenmikroskopische Untersuchung metallischer Werkstoffe mittels Replikattechnik. Herstellung von Replikaten für die Mikrofraktographie-Untersuchung.
UNI 7329-1974 Elektronenmikroskopische Untersuchung metallischer Werkstoffe mittels Replikattechnik. Herstellung von Replikaten zur Mikrostrukturuntersuchung.

ES-UNE, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)

PH-BPS, Die Auflösung eines Elektronenmikroskops

PNS ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie