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전자현미경의 분해능

모두 173항목의 전자현미경의 분해능와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자현미경의 분해능와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 및 광학 측정, 분석 화학, 광학 장비, 공기질, 어휘, 비철금속, 광전자공학, 레이저 장비, 용접, 브레이징 및 저온 용접, 기르다, 열역학 및 온도 측정, 금속 재료 테스트, 길이 및 각도 측정, 항공우주 제조용 재료, 종합 전자 부품, 항공우주 유체 시스템 및 부품, 의료 장비, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 물리학, 화학, 전자 디스플레이 장치, 범죄 예방, 복합강화재료, 원자력공학, 표면 처리 및 도금, 고무 및 플라스틱 원료, 건축 자재, 철강 제품, 윤활유, 산업용 오일 및 관련 제품.


Professional Standard - Machinery, 전자현미경의 분해능

British Standards Institution (BSI), 전자현미경의 분해능

  • BS ISO 23420:2021 마이크로빔 분석의 에너지 분해능 결정 방법, 전자현미경, 전자 에너지 손실 분광학 분석
  • BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420 마이크로빔 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 에너지 분해능 결정
  • BS ISO 27911:2011 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
  • BS ISO 23729:2022 표면 화학 분석 원자력 현미경 유한 프로브 크기 확장을 위한 이미지 복구 절차 가이드
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 검사법 주사 전자 현미경 검사법을 위한 태그된 이미지 파일 형식(TIFF/SEM)
  • 21/30412880 DC BS ISO 23729 표면 화학 분석을 위한 원자력 현미경 검사 프로브 크기 확장이 제한된 원자간력 현미경을 위한 이미지 복구 절차 가이드
  • BS ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 교정 안내
  • BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
  • BS ISO 21466:2019 중요 치수를 평가하기 위한 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CDSEM 방법
  • BS ISO 16700:2016 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경의 이미지 배율 보정 가이드
  • BS ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
  • 23/30420097 DC BS ISO 23124 표면 화학 분석 라만 현미경 측면 및 축 해상도 측정
  • BS ISO 24639:2022 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정 절차
  • PD IEC TS 62607-9-1:2021 나노제조의 주요 제어 특성에 대한 추적 가능한 공간 분해형 나노스케일 표유 자기장 측정 자기력 현미경
  • BS ISO 21222:2020 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CD-SEM 임계 치수 평가 방법
  • 19/30351707 DC BS ISO 21222 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자력 현미경 및 2점 JKR 방법을 사용하여 규정 준수 재료의 탄성 계수 결정을 위한 절차
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정 절차
  • BS EN ISO 9220:2022 주사전자현미경을 이용한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
  • BS ISO 20263:2017 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 층상 물질의 단면 이미지에서 계면 위치를 결정하는 방법
  • BS ISO 13794:1999 주변 공기 석면 섬유 측정 간접 전달 전자 현미경

International Organization for Standardization (ISO), 전자현미경의 분해능

  • ISO 23420:2021 마이크로빔 분석분석용 전자 현미경전자 에너지 손실 분광학 분석을 위한 에너지 분해능 결정 방법
  • ISO/TS 21383:2021 마이크로빔 분석 주사전자현미경 정량적 측정을 위한 주사전자현미경 식별
  • ISO/CD 25498:2023 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
  • ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
  • ISO 15932:2013 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 어휘
  • ISO 27911:2011 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
  • ISO 23729:2022 표면 화학 분석 원자간력 현미경 제한된 프로브 크기 확대 원자간력 현미경 이미지에 대한 복구 절차 안내
  • ISO 22493:2008 마이크로빔 분석주사전자현미경 방법어휘
  • ISO 19214:2017 마이크로빔 분석분석전자현미경투과전자현미경을 통해 사상 결정의 중요한 성장 방향을 결정하는 방법
  • ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
  • ISO 16700:2016 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
  • ISO/DIS 23124:2023 표면 화학 분석 라만 현미경 측면 및 축 해상도 측정
  • ISO/FDIS 23124:2023 표면 화학 분석 라만 현미경 측면 및 축 해상도 측정
  • ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
  • ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
  • ISO 11884-2:2007 광학 및 포토닉스 실체 현미경의 최소 요구 사항 2부: 고성능 현미경
  • ISO 11884-1:2006 광학 및 포토닉스 실체현미경의 최소 요구사항 1부: 일반 실체현미경
  • ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
  • ISO 21222:2020 표면 화학 분석 주사 탐침 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차.
  • ISO 21466:2019 마이크로빔 분석 주사전자현미경 CD-SEM을 통한 임계 크기 평가 방법
  • ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경법 영상선명도 평가법
  • ISO 21363:2020 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜
  • ISO 9220:2022 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
  • ISO 24639:2022 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광법을 통한 원소 분석을 위한 에너지 스케일링 절차
  • ISO/CD 20263:2023 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 층상 물질의 단면 이미지에서 계면 위치를 결정하는 방법
  • ISO 13794:1999 간접전이전자현미경을 통한 주변 공기 석면 섬유 측정
  • ISO 10312:1995 직접 전달 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
  • ISO 20263:2017 마이크로빔 분석 - 분석 투과 전자 현미경 - 적층 재료의 단면 이미지에서 계면 위치 결정 방법
  • ISO/WD TR 23683:2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 전기 스캐닝 프로브 현미경을 사용하여 반도체 장치의 캐리어 농도를 실험적으로 정량화하는 방법에 대한 가이드

Association Francaise de Normalisation, 전자현미경의 분해능

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자현미경의 분해능

  • GB/Z 21738-2008 1차원 나노물질의 기본구조, 고해상도 투과전자현미경 검출방법
  • GB/T 18907-2002 투과전자현미경으로 선택된 전자회절 분석방법
  • GB/T 18907-2013 마이크로빔 분석, 분석전자현미경, 투과전자현미경, 선정된 전자회절분석법
  • GB/T 31227-2014 원자력현미경을 이용한 스퍼터링된 막의 표면거칠기 측정방법
  • GB/T 19267.6-2003 범죄 수법의 흔적 증거에 대한 물리화학적 조사 제6부, 주사전자현미경
  • GB/T 18295-2001 석유 및 가스 저장소의 사암 시료에 대한 주사전자현미경 분석 방법
  • GB/T 32189-2015 질화갈륨 단결정 기판의 표면 거칠기의 원자력 현미경 검사 방법
  • GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
  • GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자현미경의 분해능

KR-KS, 전자현미경의 분해능

  • KS D ISO 22493-2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
  • KS P ISO 10936-2-2020 광학 및 포토닉스 - 작동 현미경 - 2부: 눈 수술에 사용되는 현미경의 사소한 위험
  • KS D ISO 16700-2023 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경 이미지 배율 교정 가이드
  • KS D 2716-2023 나노입자 직경 측정 - 투과전자현미경
  • KS B ISO 19012-1-2016 광학 및 포토닉스 현미경 대물렌즈의 명명법 1부: 필드 평탄도

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자현미경의 분해능

  • JIS K 3850-1:2006 공기 중 섬유 분자 측정 1부: 광학 현미경 및 주사 전자 현미경
  • JIS K 3850-1:2000 공기 중의 섬유상 입자 측정 방법 1부: 광학 현미경 및 주사전자현미경
  • JIS K 0149-1:2008 마이크로빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
  • JIS K 3850-3:2000 공기 중 섬유 입자 측정 방법 3부: 간접 전달 투과 전자 현미경
  • JIS K 3850-2:2000 공기 중 섬유상 입자 측정 방법 2부: 직접 전달 투과 전자 현미경

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 전자현미경의 분해능

  • GB/T 33834-2017 마이크로빔 분석 주사전자현미경 생물학적 시료의 주사전자현미경 분석방법
  • GB/T 32262-2015 원자현미경 검출을 위한 DNA 시료의 제조 방법

RU-GOST R, 전자현미경의 분해능

  • GOST 15114-1978 광학 장비의 미세한 시스템 해상도 한계의 시각적 결정
  • GOST R ISO 27911-2015 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
  • GOST R 8.594-2009 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 주사전자현미경

Association of German Mechanical Engineers, 전자현미경의 분해능

Professional Standard - Education, 전자현미경의 분해능

  • JY/T 0581-2020 투과전자현미경 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • JY/T 0584-2020 주사전자현미경 분석 방법의 일반 원리
  • JY/T 010-1996 분석용 주사전자현미경 방법의 일반 원리

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전자현미경의 분해능

  • GB/T 35098-2018 마이크로빔 분석 투과전자현미경 투과전자현미경 식물 바이러스 형태 식별

German Institute for Standardization, 전자현미경의 분해능

  • DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법
  • DIN EN ISO 9220:2022-05 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사전자현미경

Group Standards of the People's Republic of China, 전자현미경의 분해능

工业和信息化部, 전자현미경의 분해능

  • YB/T 4676-2018 투과전자현미경을 이용한 철강의 석출상 분석

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자현미경의 분해능

  • ASTM E2382-04(2020) 주사 터널링 현미경 및 원자력 현미경의 스캐너 및 팁 관련 인공물에 대한 표준 가이드
  • ASTM E766-98(2003) 주사전자현미경의 배율 교정
  • ASTM E766-98 주사전자현미경의 배율 교정
  • ASTM E2859-11(2017) 원자력현미경을 이용한 나노입자 측정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E285-08(2015) 원자력현미경을 이용한 나노입자 측정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2382-04 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 품목에 대한 안내
  • ASTM E2382-04(2012) 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 항목에 대한 표준 가이드
  • ASTM E2859-11(2023) 원자현미경을 이용한 나노입자 크기 측정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2859-11 원자기계현미경을 이용한 치수 측정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2090-00 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E2090-12 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E986-97 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM E986-04(2017) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM E766-14 주사전자현미경 배율 교정을 위한 표준 방법
  • ASTM E766-98(2008)e1 주사전자현미경의 배율계수에 대한 표준 교정 사양
  • ASTM E3143-18a 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
  • ASTM E3143-18 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
  • ASTM E3143-18b 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
  • ASTM D3849-02 카본블랙의 표준시험방법 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태적 특성 분석
  • ASTM D3849-04 카본블랙의 표준시험방법 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태적 특성 분석
  • ASTM C1723-16(2022) 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
  • ASTM C1723-10 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
  • ASTM C1723-16 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
  • ASTM D3849-13 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태적 특성 표준시험방법
  • ASTM D3849-14 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태적 특성 표준시험방법
  • ASTM E766-14(2019) 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
  • ASTM E2142-08 주사전자현미경을 이용한 철 내 개재물의 등급 및 분류를 위한 표준 시험 방법
  • ASTM D7416-08 특정 5개 부분을 사용하여 사용 중인 윤활제 분석을 위한 표준 실습(전환 자기장 레이저 입자 계수기 현미경 파편 분석 및 궤도 비전을 사용한 유전 상수 시간 분해 유전 상수)
  • ASTM D3849-95a(2000) 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태학적 특성 측정을 위한 표준시험방법
  • ASTM D3849-07 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태학적 특성 측정을 위한 표준시험방법
  • ASTM D3849-22 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태학적 특성 측정을 위한 표준시험방법
  • ASTM E3143-18b(2023) 리포솜의 저온 투과 전자 현미경 검사를 수행하기 위한 표준 관행
  • ASTM E2142-08(2015) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E2142-08(2023) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 전자현미경의 분해능

Professional Standard - Petroleum, 전자현미경의 분해능

国家能源局, 전자현미경의 분해능

International Electrotechnical Commission (IEC), 전자현미경의 분해능

  • IEC PAS 62191:2000 밀봉되지 않은 전자 부품의 음향 현미경
  • IEC TS 62607-9-1:2021 나노제조 중요한 제어 특성 9-1부: 추적 가능한 공간적으로 분해된 나노규모 표유 자기장 측정 자기력 현미경

Society of Automotive Engineers (SAE), 전자현미경의 분해능

  • SAE ARP598C-2003 (R) 액체 전력 시스템의 공중 현미경 입자 크기 및 입자 오염

Danish Standards Foundation, 전자현미경의 분해능

  • DS/ISO 10936-2:2010 광학 및 포토닉스 수술용 현미경 2부: 안과 수술에 사용되는 수술용 현미경의 가벼운 위험
  • DS/EN ISO 9220:1995 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
  • DS/ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.

Professional Standard - Nuclear Industry, 전자현미경의 분해능

  • EJ/T 20176-2018 다이아몬드 공구 엣지 선명도의 원자력 현미경 측정 방법

European Committee for Standardization (CEN), 전자현미경의 분해능

  • EN ISO 21363:2022 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜

SE-SIS, 전자현미경의 분해능

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, 전자현미경의 분해능

  • SPB-M2-1-2007 원자력 현미경을 통한 아스팔텐의 계면 및 유변학적 특성 연구

IT-UNI, 전자현미경의 분해능

  • UNI 7604-1976 복제물을 이용한 금속재료의 전자현미경 검사. 현미경 사진 검사용 복제본 준비
  • UNI 7329-1974 복제물을 이용한 금속재료의 전자현미경 검사. 미세 구조 검사를 위한 복제본 준비

ES-UNE, 전자현미경의 분해능

PH-BPS, 전자현미경의 분해능

  • PNS ISO 21363:2021 나노기술 투과전자현미경을 이용한 입자크기 및 형상분포 측정




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