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RUWiderstand des Polstückkörpers
Für die Widerstand des Polstückkörpers gibt es insgesamt 500 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Widerstand des Polstückkörpers die folgenden Kategorien: Widerstand, Isolierflüssigkeit, Halbleitermaterial, Prüfung von Metallmaterialien, Isoliermaterialien, Nichteisenmetallprodukte, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Anorganische Chemie, Leitermaterial, Umfangreiche elektronische Komponenten, Plastik, Nichteisenmetalle, Diskrete Halbleitergeräte, Verbundverstärkte Materialien, Ausrüstung für die Öl- und Gasindustrie, Optoelektronik, Lasergeräte, Solartechnik, Kraftwerk umfassend, Elektrische und elektronische Prüfung, Metallkorrosion, Bodenqualität, Bodenkunde, Glas, Keramik, Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Baumaterial, Chemikalien, Thermodynamik und Temperaturmessung, Feuer bekämpfen, Ventil, Klebstoffe und Klebeprodukte, Rohstoffe für Gummi und Kunststoffe, Verschluss, Erdarbeiten, Aushubarbeiten, Fundamentbau, Tiefbauarbeiten, Gummi, Kondensator, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Drucktechnik, Elektrotechnik umfassend, Drähte und Kabel, Elektronische Anzeigegeräte, Organisation und Führung von Unternehmen (Enterprises), Elektronenröhre, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, Farben und Lacke, magnetische Materialien, Batterien und Akkus, Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV).
IPC - Association Connecting Electronics Industries, Widerstand des Polstückkörpers
Defense Logistics Agency, Widerstand des Polstückkörpers
- DLA A-A-59742-2002 INDUKTOR, CHIP, LEISTUNG, NIEDRIGER WIDERSTAND, OBERFLÄCHENMONTAGE
- DLA A-A-59742 VALID NOTICE 1-2011 Induktivität, Chip, Leistung, geringer Widerstand, Oberflächenmontage
- DLA QPL-49465-16-2006 WIDERSTÄNDE, FEST, METALLELEMENT (STROMTYP), SEHR NIEDRIGE WIDERSTANDSWERTE, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- DLA DSCC-DWG-04032 REV A-2006 WIDERSTAND, CHIP, FEST, FILM, NIEDRIGE WERTE, HOHE LEISTUNG, 1,5 WATT, STIL 2512
- DLA SMD-5962-88589 REV D-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, POSITIVES NAND-GATE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-96658 REV C-2003 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL-WECHSELRICHTER MIT NIEDRIGER LEISTUNG, HEX-SCHMITT-TRIGGER-WECHSELRICHTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA DESC-DWG-88020 REV C-2011 WIDERSTANDSNETZWERK, 6-PIN, BLEILOSER CHIPTRÄGER
- DLA DSCC-DWG-88036 REV B-2011 WIDERSTANDSNETZWERK, 10 PIN, BLEILOSER CHIPTRÄGER
- DLA DSCC-DWG-87018 REV H-2012 WIDERSTANDSNETZWERK, 16 PIN, BLEILOSER CHIPTRÄGER
- DLA DSCC-DWG-88034 REV J-2006 WIDERSTAND, FEST, FILM, CHIP, NIEDRIGE WERTE, HOHE LEISTUNG, STIL 2512
- DLA MIL-M-38510/25 E VALID NOTICE 1-2010 Mikroschaltungen, digital, bipolar, TTL, Low Power, Zähler, monolithisches Silizium
- DLA MIL-M-38510/21 F VALID NOTICE 1-2010 Mikroschaltungen, digital, bipolar, TTL, Low Power, Flip-Flops, monolithisches Silizium
- DLA MIL-M-38510/327 B VALID NOTICE 1-2008 Mikroschaltungen, digitale, bipolare, Low-Power-Schottky-TTL, Zähler, monolithisches Silizium
- DLA DSCC-DWG-04032 REV B-2011 WIDERSTAND, CHIP, FEST, FILM, NIEDRIGE WERTE, HOHE LEISTUNG, 1,5 WATT, STIL 2512
- DLA SMD-5962-95527-1994 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, 7-KANAL-COMMON-SOURCE-POWER-DMOS-ARRAY, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-96751 REV A-2003 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, DUAL-JK-FLIP-FLOPS MIT KLAREM, MONOLITHISCHEM SILIKON
- DLA DSCC-DWG-87075 REV E-2005 WIDERSTAND, FEST, FILM, CHIP, FLANSCHMONTAGE, DOPPELTASTE, HOHE LEISTUNG 10 WATT
- DLA DSCC-DWG-01032 REV C-2013 WIDERSTAND, CHIP, FEST, FILM, BERYLLIA-SUBSTRAT, HOHE LEISTUNG, STIL 1206
- DLA SMD-5962-87778 REV A-2001 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, LEISTUNGSTRANSISTOR, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-87778 REV B-2011 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, LEISTUNGSTRANSISTOR, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-97547 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, 4-BIT-MAGNITUDENKPARATOREN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA DESC-DWG-88016 REV C-2011 WIDERSTANDSNETZE, FEST, FILM, 20 PIN, LEADLOSE CHIP-TRÄGER
- DLA SMD-5962-76018 REV H-2005 MIKROSCHALTER, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, LATCH, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-76032 REV E-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLARES SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, ZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-76036 REV E-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, ZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-77001 REV G-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, ZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-77010 REV G-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, ZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-92319 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, EXKLUSIV-ODER-GATE, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-95671 REV B-2006 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STRAHLENGEHÄRTET, BREITBAND, HOHE IMPEDENZ, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA DSCC-DWG-01032 REV A-2004 WIDERSTAND, CHIP, FEST, FILM, BERYLLIA-SUBSTRAT, HOHE LEISTUNG, STIL 1206
- DLA DSCC-DWG-89099 REV G-2005 WIDERSTAND, FEST, FILM, CHIP, FLANSCHMONTAGE, EINZELNE TAB, HOHE LEISTUNG, 10 WATT
- DLA DSCC-DWG-06011 REV B-2009 WIDERSTAND, CHIP, FEST, POWER-METALLSTREIFEN, OBERFLÄCHENMONTAGE, NIEDRIGER WERT (1,0 WATT), STIL 2512
- DLA MIL-M-38510/321 C VALID NOTICE 1-2008 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, PUFFER/TREIBER, OFFENER KOLLEKTOR-AUSGANG, HOCHSPANNUNG, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-01507-2001 MIKROSCHALTUNG, DIGITALER, BIPOLARER HOCHGESCHWINDIGKEITS-LOOK-AHEAD-TRAGSGENERATOR, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA MIL-M-38510/316 E VALID NOTICE 1-2008 MIKROKREISE, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, KASKADIERBARE LATCHES, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA DSCC-DWG-06003 REV B-2013 WIDERSTAND, CHIP, FEST, POWER-METALLSTREIFEN, OBERFLÄCHENMONTAGE, NIEDRIGER WERT (2 WATT), STIL 4527
- DLA DSCC-DWG-06006 REV A-2013 WIDERSTAND, CHIP, FEST, POWER-METALLSTREIFEN, OBERFLÄCHENMONTAGE, NIEDRIGER WERT (3 WATT), STIL 4527
- DLA SMD-5962-88596 REV D-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNG SCHOTTKY TTL, PUFFER/TREIBER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA DSCC-DWG-06003 REV A-2006 WIDERSTAND, CHIP, FEST, POWER-METALLSTREIFEN, OBERFLÄCHENMONTAGE, NIEDRIGER WERT (2 WATT), STIL 4527
- DLA DSCC-DWG-06006-2006 WIDERSTAND, CHIP, FEST, POWER-METALLSTREIFEN, OBERFLÄCHENMONTAGE, NIEDRIGER WERT (3 WATT), STIL 4527
- DLA DSCC-DWG-06007-2006 WIDERSTAND, CHIP, FEST, POWER-METALLSTREIFEN, OBERFLÄCHENMONTAGE, NIEDRIGER WERT (0,1 WATT), STIL 0603
- DLA DSCC-DWG-06009-2006 WIDERSTAND, CHIP, FEST, POWER-METALLSTREIFEN, OBERFLÄCHENMONTAGE, NIEDRIGER WERT (0,25 WATT), STIL 1206
- DLA DSCC-DWG-06010 REV A-2007 WIDERSTAND, CHIP, FEST, POWER-METALL-STREIFEN, OBERFLÄCHENMONTAGE, NIEDRIGER WERT (0,5 WATT), STIL 2010
- DLA DSCC-DWG-06011-2006 WIDERSTAND, CHIP, FEST, POWER-METALLSTREIFEN, OBERFLÄCHENMONTAGE, NIEDRIGER WERT (1,0 WATT), STIL 2512
- DLA DSCC-DWG-06012-2006 WIDERSTAND, CHIP, FEST, POWER-METALLSTREIFEN, OBERFLÄCHENMONTAGE, NIEDRIGER WERT (2,0 WATT), STIL 2816
- DLA SMD-5962-76014 REV G-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, ADDER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-76016 REV J-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, MULTIPLEXER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-76019 REV H-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR SCHOTTKY TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, MULTIPLEXER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-76037 REV F-2003 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, MULTIPLEXER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-83022 REV J-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTSCHRITTLICHE SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, ZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-84013 REV F-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNG SCHOTTKY, TTL, TRANSCEIVER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-84154 REV D-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, REGISTER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-88696 REV A-1990 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITALER BIPOLARER DYNAMISCHER SPEICHERCONTROLLER AUS MONOLITHISCHEM SILIKON
- DLA SMD-5962-95574 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, TTL-VIERFACH, POSITIV-ODER-GATE MIT 2 EINGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-97553 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, MONOSTABILER MULTIVIBRATOR, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-97558 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY, TTL, POSITIVE NAND-GATE MIT 8 EINGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-89748 REV A-2005 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, OKTAL-BUS-TRANSCEIVERS, OFFENE KOLLEKTOR-AUSGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA DESC-DWG-87016 REV N-2012 WIDERSTANDSNETZWERK, FEST, FILM, OBERFLÄCHENMONTAGE, 20 PIN, KABELLOSER CHIPTRÄGER
- DLA DSCC-DWG-87015 REV F-2012 WIDERSTANDSNETZE, FEST, FILM, OBERFLÄCHENMONTAGE, 28 PIN, KABELLOSER CHIPTRÄGER
- DLA DESC-DWG-87014 REV K-2013 WIDERSTANDSNETZWERK, FEST, FILM, OBERFLÄCHENMONTAGE, 16 PIN, KABELLOSER CHIPTRÄGER
- DLA SMD-5962-77009 REV E-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, DEKADENZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-78026 REV D-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, DEKADENZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-84145 REV D-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNG SCHOTTKY TTL ODER TREIBER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-89687 REV C-2004 DIGITALE, BIPOLARE, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNGS-SCHOTTKY-, TTL-, OKTAL-BUS-TRANSCEIVERS UND -REGISTER MIT MIKROSCHALTUNG, MIT INVERTIERENDEN DREI-ZUSTANDS- UND OFFENEN KOLLEKTOR-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-95688 REV D-2007 Mikroschaltung, linear, strahlungsgehärtet, breitbandig, hohe Eingangsimpedanz, Operationsverstärker, monolithisches Silizium
- DLA SMD-5962-95584 REV C-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, SYNCHRONER 4-BIT-AUF-/ABZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-84000 REV D-2005 MIKROKREISE, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHE LOWPOWER-SCHOTTKY-TTL, JK-FLIP-FLOPS, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-84012 REV G-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTSCHRITTLICHES SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, TRANSPARENTE VERRIEGELUNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-84030 REV E-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTSCHRITTLICHE SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, BUS-TRANSCEIVER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-84135 REV E-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTSCHRITTLICHES NIEDRIGER LEISTUNGS-SCHOTTKY-TTL, MULTIPLEXER-MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-84143 REV F-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE LOW-POWER-SCHOTTKY-TTL UND GATES, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-90503 REV C-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY MIT NIEDRIGER LEISTUNG, TTL, OKTAL-SPEICHERREGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-88589 REV C-2001 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, POSITIVES NAND-GATE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-88590 REV B-2001 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, POSITIVES NAND-GATE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-88596 REV C-2001 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNG SCHOTTKY TTL, PUFFER/TREIBER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA MIL-M-38510/325 D VALID NOTICE 1-2008 MIKROKREISE, DIGITAL, BIPOLAR, LOW-POWER, SCHOTTKY TTL, FLIP-FLOPS, KASKADIERBAR, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-97560 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY, TTL, QUAD 2-EINGANG POSITIV-ODER-GATE, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-97561 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY, TTL, DREIFACH, 3-EINGÄNGE, POSITIV UND GATE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA MIL-M-38510/322 C VALID NOTICE 1-2008 Mikroschaltungen, digital, bipolar, Schottky-TTL mit geringem Stromverbrauch, Hex-Bus-Treiber mit 3 Zustandsausgängen, monolithisches Silizium
- DLA MIL-M-38510/323 D VALID NOTICE 1-2008 MIKROKREISE, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, VIERFACH-BUS-PUFFER-GATES MIT DREI ZUSTANDSAUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA MIL-M-38510/324 D VALID NOTICE 1-2008 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, OKTAL-PUFFER-GATES MIT DREI ZUSTANDSAUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-90541 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY MIT NIEDRIGER LEISTUNG, TTL, DUAL CARRY-SAVE-VOLLADDER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-96809 REV B-2003 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLARES CMOS, 3,3 VOLT 16-BIT-PUFFER/TREIBER MIT BUS-HALTEN UND WIDERSTÄNDE DER 22-OHM-SERIE UND DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGE, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-81023 REV L-2006 MIKROSCHALTUNG, LINEARE BI-FET-OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-97508 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY MIT NIEDRIGER LEISTUNG, DUAL 2-ZEILEN-BIS 4-ZEILEN-DECODER/DEMULTIPLEXER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-85126 REV C-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, PUFFER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-83019 REV G-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTSCHRITTLICHES SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, FLIP-FLOPS AUS MONOLITHISCHEM SILIKON
- DLA SMD-5962-84001 REV K-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTSCHRITTLICHES SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, FLIP-FLOP, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-84010 REV D-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTSCHRITTLICHE SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, FLIP-FLOPS, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-84136 REV E-2005 MIKROKREISE, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNG SCHOTTKY TTL, FLIP-FLOP, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-88727 REV C-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNG SCHOTTKY TTL, OKTAL-BUS-TRANSCEIVERS, MONOLITHISCHES SILIKON
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Widerstand des Polstückkörpers
- GB/T 6617-1995 Testverfahren zur Messung des spezifischen Widerstands von Siliziumwafern mithilfe einer Ausbreitungswiderstandssonde
- GB/T 6617-2009 Testverfahren zur Messung des spezifischen Widerstands von Siliziumwafern mithilfe einer Ausbreitungswiderstandssonde
- GB/T 6616-2023 Berührungsloses Wirbelstromverfahren zum Testen des spezifischen Widerstands von Halbleiterwafern und des Schichtwiderstands von Halbleiterfilmen
- GB/T 6616-1995 Prüfverfahren zur Messung des spezifischen Widerstands von Halbleitersilizium oder des Schichtwiderstands von Halbleiterfilmen mit einem berührungslosen Wirbelstrommessgerät
- GB/T 1410-2006 Methoden zur Prüfung des Volumenwiderstands und des Oberflächenwiderstands fester elektrischer Isoliermaterialien
- GB/T 6616-2009 Prüfverfahren zur Messung des spezifischen Widerstands von Halbleiterwafern oder des Schichtwiderstands von Halbleiterfilmen mit einem berührungslosen Wirbelstrommessgerät
- GB/T 36356-2018 Technische Spezifikation für leistungsstarke Leuchtdiodenchips
- GB/T 11073-2007 Standardmethode zur Messung der radialen Widerstandsschwankung auf Siliziumscheiben
- GB/T 41708-2022 Prüfverfahren für den spezifischen Widerstand von Glasschmelzen
- GB/T 36357-2018 Technische Spezifikation für Leuchtdiodenchips mittlerer Leistung
- GB/T 15662-1995 Verfahren zur Prüfung des Volumenwiderstands von leitfähigen und antistatischen Kunststoffen
- GB/T 19289-2003 Methoden zur Messung der Dichte, des spezifischen Widerstands und des Stapelfaktors von Elektrostahlblechen und -bändern
- GB/T 3048.2-1994 Prüfverfahren zur Bestimmung der elektrischen Eigenschaften elektrischer Kabel und Leitungen. Messung des spezifischen Widerstands metallisch leitender Materialien
- GB/T 5654-2007 Isolierende Flüssigkeiten. Messung der relativen Permittivität, des dielektrischen Verlustfaktors und des elektrischen Widerstands
- GB/T 3048.3-1994 Prüfverfahren zur Bestimmung der elektrischen Eigenschaften elektrischer Kabel und Leitungen. Messung des Volumenwiderstands von halbleitenden Gummis und Kunststoffen
- GB/T 3048.3-2007 Prüfverfahren für elektrische Eigenschaften elektrischer Kabel und Leitungen. Teil 3: Prüfung des spezifischen Volumenwiderstands von halbleitenden Gummis und Kunststoffen
- GB/T 36359-2018 Optoelektronische Halbleiterbauelemente. Blanko-Detailspezifikation für Leuchtdioden mit geringerer Leistung
- GB/T 36360-2018 Optoelektronische Halbleiterbauelemente. Blanko-Detailspezifikation für Leuchtdioden mittlerer Leistung
Group Standards of the People's Republic of China, Widerstand des Polstückkörpers
- T/CEMIA 028-2022 Spezifikation für Oberflächenelektrodenpaste für Chip-Widerstände
- T/CEMIA 027-2022 Spezifikation für Rückelektrodenpaste für Chip-Widerstände
- T/CPIA 0051-2023 Testmethode für den Kontaktwiderstand von kristallinen Silizium-Photovoltaikzellen und Metallelektroden Transmission Line Model Method (TLM)
- T/IAWBS 011-2019 Testverfahren zur Messung des spezifischen Widerstands leitfähiger Siliziumkarbid-Wafer mit einem berührungslosen Wirbelstrommessgerät
- T/IAWBS 013-2019 Die Methode zur Messung des spezifischen Widerstands für halbisolierende Siliziumkarbidsubstrate
- T/CSTM 00252-2020 Testmethode für den elektrischen Widerstand von Kohlefasern durch Vier-Sonden-Methode
- T/SBX 027-2019 Bestimmung des spezifischen Widerstands von nematischem thermotropem Flüssigkristallmonomer mittels Gleichspannungsmethode
- T/CASAS 019-2021 Testmethode für den spezifischen Widerstand von Mikro- und Nanometall-Sinterkörpern: Vier-Sonden-Methode
PL-PKN, Widerstand des Polstückkörpers
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Widerstand des Polstückkörpers
- JJG 48-2004 Standardscheibe aus einkristallinem Silizium mit spezifischem Widerstand
- JJG 48-1990 Überprüfungsregelung der Standardscheibe des spezifischen Widerstands von einkristallinem Silizium
SE-SIS, Widerstand des Polstückkörpers
- SIS SS IEC 93:1983 Methoden zur Prüfung des Volumenwiderstands und des Oberflächenwiderstands fester elektrischer Isoliermaterialien
- SIS SS-CECC 40400-1990 Abschnittsspezifikation: Feste, oberflächenmontierbare (Chip-)Widerstände mit geringer Leistung
- SIS SS-CECC 40401-1990 Vordruck für Detailspezifikation: Feste, nicht drahtgewickelte, oberflächenmontierte (Chip-)Widerstände mit geringer Leistung
International Electrotechnical Commission (IEC), Widerstand des Polstückkörpers
- IEC 60093:1980 Methoden zur Prüfung des Volumenwiderstands und des Oberflächenwiderstands fester elektrischer Isoliermaterialien
- IEC 61788-4:2001 Supraleitung – Teil 4: Messung des Restwiderstandsverhältnisses; Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti-Verbundsupraleitern
- IEC 62631-3-1:2023 RLV Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand – Allgemeine Methode
- IEC 62631-3-1:2023 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand – Allgemeine Methode
- IEC 62631-3-4:2019 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-4: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Durchgangswiderstand und Durchgangswiderstand bei erhöhten Temperaturen
- IEC 61788-11:2011 Supraleitung – Teil 11: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von NbSn-Verbundsupraleitern
- IEC 62631-3-1:2016 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand – Allgemeine Methode
- IEC 61788-4:2007 Supraleitung – Teil 4: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti-Verbundsupraleitern
- IEC 61788-4:2011 Supraleitung – Teil 4: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti-Verbundsupraleitern
- IEC 62631-3-11:2018 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-11: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Durchgangswiderstand und Durchgangswiderstand – Verfahren zur Imprägnierung a
- IEC 61788-4:2016 Supraleitung – Teil 4: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti- und Nb3Sn-Verbundsupraleitern
- IEC 61788-11:2003 Supraleitung – Teil 11: Messung des Restwiderstandsverhältnisses; Restwiderstandsverhältnis von NbSn-Verbundsupraleitern
- IEC 62631-3-2:2015 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- IEC 60247:1978 Messung der relativen Permittivität, des dielektrischen Verlustfaktors und des spezifischen Gleichstromwiderstands von Isolierflüssigkeiten
- IEC 60247:2004 Isolierflüssigkeiten – Messung der relativen Permittivität, des dielektrischen Verlustfaktors (tan) und des spezifischen Gleichstromwiderstands
- IEC 61788-4:2020 Supraleitung – Teil 4: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti- und Nb3Sn-Verbundsupraleitern
- IEC 61340-2-3:2016 RLV Elektrostatik – Teil 2-3: Prüfverfahren zur Bestimmung des Widerstands und der Widerstandsfähigkeit fester Materialien zur Vermeidung elektrostatischer Ladungsansammlung
- IEC 60747-5-8:2019 Halbleiterbauelemente – Teil 5-8: Optoelektronische Bauelemente – Leuchtdioden – Prüfverfahren für optoelektronische Wirkungsgrade von Leuchtdioden
- IEC 61788-7:2002 Supraleitung - Teil 7: Elektronische Kennlinienmessungen; Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
- IEC 61788-7:2006 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
- IEC 60404-13:1995 Magnetische Materialien – Teil 13: Methoden zur Messung der Dichte, des spezifischen Widerstands und des Stapelfaktors von Elektrostahlblechen und -bändern
- IEC 60404-13:2018 Magnetische Materialien – Teil 13: Methoden zur Messung des spezifischen Widerstands, der Dichte und des Stapelfaktors von Elektrostahlbändern und -blechen
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Widerstand des Polstückkörpers
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- GB/T 22586-2018 Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
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- KS C 2603-1980 Prüfverfahren für den Leiterwiderstand und den spezifischen Widerstand von Materialien mit metallischem Widerstand
- KS C 2603-1980(2020) Prüfverfahren für den Leiterwiderstand und den spezifischen Widerstand von Materialien mit metallischem Widerstand
- KS C 0256-2002(2017) Prüfverfahren für den spezifischen Widerstand von Siliziumkristallen und Siliziumwafern mit einer Vierpunktsonde
- KS C 2607-1974(2000) TESTMETHODEN VON HALBLEITERN
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- KS C 2607-1980 TESTMETHODEN VON HALBLEITERN
- KS C IEC 62631-3-1-2017(2022) Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3—1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (Gleichstrommethoden) – Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand – Allgemeine Methode
- KS C IEC 62631-3-4:2020 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-4: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Volumenwiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand bei erhöhten Temperaturen
- KS C IEC 62631-3-1:2017 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3—1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (Gleichstrommethoden) – Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand – Allgemeine Methode
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- KS C IEC 61788-11:2005 Supraleitung – Teil 11: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb3Sn-Verbundsupraleitern
- KS D 0260-1999 PRÜFMETHODEN DES WIDERSTANDS EINKRISTALLER SILIZIUMWAFER MIT VIERPUNKTSONDE
- KS M 6773-2014 Prüfverfahren für den Volumenwiderstand von elektrisch leitfähigen Gummi- und Kunststoffmaterialien
- KS C IEC 62631-3-11:2021 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-11: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Volumenwiderstand und Volumenwiderstand – Verfahren zur Imprägnierung und
- KS M ISO 10143-2004(2019) Kohlenstoffhaltige Materialien zur Herstellung von Aluminium – kalzinierter Koks für Elektroden – Bestimmung des elektrischen Widerstands von Granulat
- KS D 0260-1989(1994) PRÜFMETHODEN DES WIDERSTANDS EINKRISTALLER SILIZIUMWAFER MIT VIERPUNKTSONDE
- KS C 2005-2003 PRÜFVERFAHREN FÜR DEN ISOLATIONSWIDERSTAND VON FESTEN ELEKTRISCHEN ISOLIERMATERIALIEN
- KS M ISO 10143:2004 Kohlenstoffhaltige Materialien zur Herstellung von Aluminium – kalzinierter Koks für Elektroden – Bestimmung des elektrischen Widerstands von Granulat
- KS C IEC 62631-3-2:2017 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3–2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (Gleichstrommethoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- KS C IEC 62631-3-2-2017(2022) Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3–2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (Gleichstrommethoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- KS M 6773-2014(2019) Prüfverfahren für den Volumenwiderstand von elektrisch leitfähigen Gummi- und Kunststoffmaterialien
- KS C 5115-43-2001 Festwiderstände für den Einsatz in elektronischen Geräten – Teil 4:Blanko Bauartspezifikation:Feste Leistungswiderstände, Kühlkörpertypen Bewertungsstufe H
- KS C IEC 61340-2-3:2004 Elektrostatik – Teil 2-3: Prüfmethoden zur Bestimmung des Widerstands und der spezifischen Widerstandsfähigkeit von festen Hobelmaterialien, die zur Vermeidung der Ansammlung elektrostatischer Ladung verwendet werden
- KS C IEC 61340-2-3:2014 Elektrostatik – Teil 2 – 3: Prüfmethoden zur Bestimmung des Widerstands und der spezifischen Widerstandsfähigkeit von festen Hobelmaterialien, die zur Vermeidung der Ansammlung elektrostatischer Ladung verwendet werden
- KS C 6111-4-2007(2017) Homogenität des Oberflächenwiderstands großer Supraleiterfilme mit hohem Tc bei Mikrowellenfrequenzen
- KS C IEC 61788-16:2020 Supraleitung – Teil 16: Elektronische Charakteristikmessungen – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
- KS C IEC 60404-13-2002(2017) Magnetische Materialien – Teil 13: Methoden zur Messung der Dichte, des spezifischen Widerstands und des Stapelfaktors von Elektrostahlblechen und -bändern
- KS C IEC 60404-13-2002(2022) Magnetische Materialien – Teil 13: Methoden zur Messung der Dichte, des spezifischen Widerstands und des Stapelfaktors von Elektrostahlblechen und -bändern
KR-KS, Widerstand des Polstückkörpers
- KS C IEC 60093-2014 Methoden zur Prüfung des Volumenwiderstands und des Oberflächenwiderstands fester elektrischer Isoliermaterialien
- KS L ISO 13931-2018 Kohlefaser – Bestimmung des Volumenwiderstands
- KS L ISO 13931-2018(2023) Kohlefaser – Bestimmung des Volumenwiderstands
- KS C IEC 62631-3-1-2017 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3—1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (Gleichstrommethoden) – Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand – Allgemeine Methode
- KS C IEC 62631-3-4-2020 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-4: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Volumenwiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand bei erhöhten Temperaturen
- KS C IEC 62631-3-11-2021 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-11: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Volumenwiderstand und Volumenwiderstand – Verfahren zur Imprägnierung und
- KS C IEC 62631-3-2-2017 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3–2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (Gleichstrommethoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- KS C IEC 61788-16-2020 Supraleitung – Teil 16: Elektronische Charakteristikmessungen – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
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- NF EN ISO 20168:2021 Widerstandsschweißen - Spannkegel für Elektrodenhalter und Elektrodenspitzen
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- NF C26-631-3-4*NF EN IEC 62631-3-4:2019 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-4: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (Gleichstrommethoden) – Durchgangswiderstand und Durchgangswiderstand bei erhöhten Temperaturen
- NF EN IEC 62631-3-1:2023 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (Gleichstromverfahren) – Durchgangswiderstand und Durchgangswiderstand – Allgemeine Methode
- NF C31-888-4:2012 Supraleitung – Teil 4: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti-Verbundsupraleitern.
- NF C26-631-3-1*NF EN 62631-3-1:2016 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand – Allgemeine Methode
- NF EN ISO 8430-2:2016 Widerstandspunktschweißen – Elektrodenhalter – Teil 2: Morsekegelbefestigung
- NF EN ISO 8430-1:2016 Widerstandspunktschweißen - Elektrodenhalter - Teil 1: Montagekonus 1:10
- NF C27-210:1979 Messung des dielektrischen Verlustfaktors der relativen Dielektrizitätskonstante und des spezifischen Gleichstromwiderstands von Isolierflüssigkeiten.
- NF C26-631-3-11*NF EN IEC 62631-3-11:2018 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-11: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Durchgangswiderstand und Durchgangswiderstand – Verfahren für Imprägnierungs- und Beschichtungsmaterialien
- NF EN ISO 5829:2021 Widerstandspunktschweißen – Elektrodenverlängerungen mit abnehmbarer Spitze (1/10 Innenkegel)
- NF C31-888-11:2003 Supraleitung – Teil 11: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb3Sn-Verbundsupraleitern.
- NF C31-888-11:2011 Supraleitung – Teil 11: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb3Sn-Verbundsupraleitern.
- NF C26-631-3-2*NF EN 62631-3-2:2016 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- NF EN IEC 62631-3-2:2023 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (Gleichstromverfahren) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- NF EN 62631-3-2:2016 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- NF C27-210*NF EN 60247:2004 Isolierflüssigkeiten – Messung der relativen Permittivität, des dielektrischen Verlustfaktors (Tan Delta) und des elektrischen Widerstands
- NF C83-241-801/A1*NF EN 140401-801/A1:2014 Detailspezifikation: Feste SMD-Folienwiderstände mit geringer Leistung – rechteckig – Stabilitätsklassen 0,1;0,25;0,5;1
- NF C83-241-802/A2*NF EN 140401-802/A2:2014 Detailspezifikation: Feste SMD-Folienwiderstände mit geringer Leistung – rechteckig – Stabilitätsklassen 1;2
- NF EN 61340-2-3:2017 Elektrostatik – Teil 2-3: Prüfverfahren zur Bestimmung des Widerstands und der spezifischen Widerstandsfähigkeit fester Materialien zur Vermeidung elektrostatischer Aufladungen
- NF C20-790-2-3:2001 Elektrostatik – Teil 2-3: Prüfverfahren zur Bestimmung des Widerstands und des spezifischen Widerstands von festen planaren Materialien, die zur Vermeidung der Ansammlung elektrostatischer Ladung verwendet werden.
- NF C31-888-16*NF EN 61788-16:2013 Supraleitung – Teil 16: Messungen der elektrischen Eigenschaften – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
- NF C20-790-2-3*NF EN 61340-2-3:2017 Elektrostatik – Teil 2-3: Prüfverfahren zur Bestimmung des Widerstands und der Widerstandsfähigkeit fester Materialien zur Vermeidung elektrostatischer Ladungsansammlung
- NF T51-731:1980 Kunststoffe. Weichgemachte Vinylverbindungen. Bestimmung des Durchgangswiderstands bei Niederspannung.
- NF C83-210:1981 Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten. Abschnittsspezifikation. Feste Leistungswiderstände.
- NF EN IEC 60404-13:2018 Magnetische Materialien – Teil 13: Methoden zur Messung des spezifischen Widerstands, der Dichte und des Ausdehnungsfaktors von Elektrostahlbändern und -blechen
- NF EN 60247:2004 Isolierflüssigkeiten – Messung der relativen Permittivität, des dielektrischen Verlustfaktors (Tan Delta) und des spezifischen Gleichstromwiderstands
- NF C28-901-13:2008 Magnetische Materialien – Teil 13: Methoden zur Messung der Dichte, des spezifischen Widerstands und des Stapelfaktors von Elektrostahlblechen und -bändern.
- NF C28-901-13*NF EN IEC 60404-13:2018 Magnetische Materialien – Teil 13: Methoden zur Messung des spezifischen Widerstands, der Dichte und des Stapelfaktors von Elektrostahlbändern und -blechen
German Institute for Standardization, Widerstand des Polstückkörpers
- DIN 51919:1999 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des elektrischen Widerstands von Elektroden nach der Strom-Spannungs-Methode; feste Materialien
- DIN 51919:2013 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des elektrischen Widerstands von Elektroden nach der Strom-Spannungs-Methode - Feste Materialien
- DIN 51919:2013-05 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des elektrischen Widerstands von Elektroden nach der Strom-Spannungs-Methode - Feste Materialien
- DIN 50435:1988 Prüfung von Halbleitermaterialien; Bestimmung der radialen Widerstandsschwankung von Silizium- oder Germaniumscheiben mittels der Vier-Sonden-/Gleichstrom-Methode
- DIN EN 61788-11:2012 Supraleitung – Teil 11: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von NbSn-Verbundsupraleitern (IEC 61788-11:2011); Deutsche Fassung EN 61788-11:2011
- DIN EN 61788-4:2012 Supraleitung – Teil 4: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti-Verbundsupraleitern (IEC 61788-4:2011); Deutsche Fassung EN 61788-4:2011
- DIN EN 61788-4:2008 Supraleitung – Teil 4: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti-Verbundsupraleitern (IEC 61788-4:2007); Deutsche Fassung EN 61788-4:2007
- DIN 50448:1998 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Berührungslose Bestimmung des elektrischen Widerstands von halbisolierenden Halbleiterscheiben mittels einer kapazitiven Sonde
- DIN EN 60247:2005 Isolierflüssigkeiten – Messung der relativen Permittivität, des dielektrischen Verlustfaktors (tan) und des spezifischen Gleichstromwiderstands (IEC 60247:2004); Deutsche Fassung EN 60247:2004
- DIN EN 62631-3-1:2017 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien - Teil 3-1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) - Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand - Allgemeines Verfahren (IEC 62631-3-1:2016); Deutsche Fassung EN 62631-3-1:2016
- DIN EN 62631-3-1 Berichtigung 1:2018 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien - Teil 3-1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) - Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand - Allgemeines Verfahren (IEC 62631-3-1:2016); Deutsche Fassung EN 62631-3-1:2016; Berichtigung
- DIN 51911:2020 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des spezifischen elektrischen Widerstands nach der Strom-Spannungs-Methode - Feste Materialien
- DIN EN 62631-3-2:2016 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien - Teil 3-2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) - Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand (IEC 62631-3-2:2015); Deutsche Fassung EN 62631-3-2:2016
- DIN EN IEC 60404-13:2020-06 Magnetische Materialien - Teil 13: Verfahren zur Messung des spezifischen Widerstands, der Dichte und des Stapelfaktors von Elektrostahlbändern und -blechen (IEC 60404-13:2018); Deutsche Fassung EN IEC 60404-13:2018 / Hinweis: DIN EN 60404-13 (2008-05) bleibt daneben gültig...
- DIN EN 60404-13:2008 Magnetische Materialien – Teil 13: Verfahren zur Messung der Dichte, des spezifischen Widerstands und des Stapelfaktors von Elektrostahlblechen und -bändern (IEC 60404-13:1995); Deutsche Fassung EN 60404-13:2007
- DIN EN 62631-3-2 Berichtigung 1:2018 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien - Teil 3-2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) - Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand (IEC 62631-3-2:2015); Deutsche Fassung EN 62631-3-2:2016; Berichtigung 1
CZ-CSN, Widerstand des Polstückkörpers
- CSN IEC 93:1993 Methoden zur Prüfung des Volumenwiderstands und des Oberflächenwiderstands fester elektrischer Isoliermaterialien
- CSN 67 3150 Cast.13-1975 Volumenwiderstand von Rycd-Vnrnish-Filmen
- CSN 35 8757 Cast.5-1985 Transistoren. Verfahren zur Messung der Kapazität einer Kollektor- und Emitter-Sperrschicht
- CSN 35 8737-1975 Halbleiterbauelemente. Dioden. Messung der Differential-Rosistanoe
AENOR, Widerstand des Polstückkörpers
- UNE 21303:1983 METHODEN ZUR PRÜFUNG DES VOLUMENWIDERSTANDS UND DES OBERFLÄCHENWIDERSTANDS VON FESTEN ELEKTRISCHEN ISOLIERMATERIALIEN.
- UNE-EN 61340-2-3:2001 Elektrostatik – Teil 2-3: Prüfverfahren zur Bestimmung des Widerstands und der spezifischen Widerstandsfähigkeit fester planarer Materialien, die zur Vermeidung der Ansammlung elektrostatischer Ladung verwendet werden.
- UNE-EN 60247:2004 Isolierflüssigkeiten – Messung der relativen Permittivität, des dielektrischen Verlustfaktors (tan d) und des spezifischen Gleichstromwiderstands
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Widerstand des Polstückkörpers
- JIS C 2525:1994 Prüfverfahren für den Leiterwiderstand und den spezifischen Widerstand metallischer Widerstandsmaterialien
- JIS C 2525:1999 Prüfverfahren für den Leiterwiderstand und den spezifischen Widerstand metallischer Widerstandsmaterialien
- JIS H 0602:1995 Prüfverfahren für den spezifischen Widerstand von Siliziumkristallen und Siliziumwafern mit einer Vierpunktsonde
- JIS H 7312:2007 Supraleitung – Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb3Sn-Verbundsupraleitern
- JIS R 7609:2007 Kohlefaser – Bestimmung des Volumenwiderstands
- JIS C 2139-3-1:2018 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand
- JIS K 6271-1:2015 Gummi, vulkanisiert oder thermoplastisch – Bestimmung des spezifischen Widerstands – Teil 1: System mit geschützten Elektroden
- JIS C 2139-3-2:2018 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- JIS K 6271-2:2015 Gummi, vulkanisiert oder thermoplastisch – Bestimmung des spezifischen Widerstands – Teil 2: Parallelanschluss-Elektrodensystem
- JIS K 6271-1:2022 Gummi, vulkanisiert oder thermoplastisch – Bestimmung des spezifischen Widerstands – Teil 1: System mit geschützten Elektroden
- JIS C 2170:2004 Elektrostatik – Prüfmethoden zur Bestimmung des Widerstands und der spezifischen Widerstandsfähigkeit fester planarer Materialien, die zur Vermeidung der Ansammlung elektrostatischer Ladung verwendet werden
- JIS K 6271:2001 Gummi, vulkanisierte oder thermoplastische Kunststoffe – Bestimmung des Volumen- und Oberflächenwiderstands
- JIS K 6271:2008 Gummi, vulkanisiert oder thermoplastisch – Bestimmung des Volumen- und Oberflächenwiderstands
- JIS H 7307:2005 Supraleitung – Teil 7: Messungen der elektrischen Eigenschaften – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
- JIS H 7307:2010 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
Professional Standard - Electron, Widerstand des Polstückkörpers
- SJ/T 11487-2015 Berührungsloses Messverfahren für den spezifischen Widerstand halbisolierender Halbleiterwafer
- SJ/T 11398-2009 Technische Spezifikation für leistungsstarke Leuchtdiodenchips
- SJ/T 1146-1993 Prüfverfahren für den Massenwiderstand organischer Filme zur Verwendung in Kondensatoren
- SJ/T 11042-1996 Testmethode für die Temperatur (Tk-100) von elektronischem Glas mit einem Volumenwiderstand von 100 MΩ·cm
- SJ/T 2658.5-2015 Messverfahren für Halbleiter-Infrarot-emittierende Dioden. Teil 5: Reihenschaltungswiderstand
- SJ/T 11393-2009 Optoelektronische Halbleiterbauelemente – Blanko-Detailspezifikation für Leistungsleuchtdioden
- SJ/T 11400-2009 Optoelektronische Halbleiterbauelemente – Blanko-Detailspezifikation für Leuchtdioden mit geringerer Leistung
- SJ 2658.5-1986 Messmethoden für Halbleiter-Infrarotdioden. Messmethoden für den Vorwärtsserienwiderstand
UY-UNIT, Widerstand des Polstückkörpers
IN-BIS, Widerstand des Polstückkörpers
- IS 6103-1971 Prüfverfahren für den spezifischen Widerstand (Widerstand) elektrischer Isolierflüssigkeiten
- IS 3396-1979 Prüfverfahren für den Volumen- und Oberflächenwiderstand fester elektrischer Isoliermaterialien
- IS 3400 Pt.15-1971 Prüfverfahren für vulkanisierten Kautschuk Teil XV Volumenwiderstand von leitfähigem und antistatischem Kautschuk
IT-UNI, Widerstand des Polstückkörpers
- UNI 4288-1972 Prüfung von Kunststoffmaterialien. Bestimmung des Oberflächenwiderstands und des Volumenwiderstands
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Widerstand des Polstückkörpers
Lithuanian Standards Office , Widerstand des Polstückkörpers
- LST HD 429 S1-2002 Prüfverfahren für den spezifischen Volumenwiderstand und Oberflächenwiderstand fester elektrischer Isoliermaterialien (IEC 60093:1980)
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- LST EN 61788-4-2011 Supraleitung – Teil 4: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti-Verbundsupraleitern (IEC 61788-4:2011)
未注明发布机构, Widerstand des Polstückkörpers
- DIN 51919 E:2012-06 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des elektrischen Widerstands von Elektroden nach der Strom-Spannungs-Methode - Feste Materialien
- BS EN IEC 62631-3-2:2023 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien. Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden). Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- DIN EN 62631-3-2 E:2014-10 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Widerstand des Polstückkörpers
- HD 429 S1-1983 Methoden zur Prüfung des Volumenwiderstands und des Oberflächenwiderstands fester elektrischer Isoliermaterialien
- EN 61788-11:2011 Supraleitung – Teil 11: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb3Sn-Verbundsupraleitern
- EN 62631-3-1:2016 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand – Allgemeine Methode
- EN 61788-4:2011 Supraleitung – Teil 4: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti-Verbundsupraleitern
- EN 61788-4:2016 Supraleitung – Teil 4: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti- und Nb3Sn-Verbundsupraleitern
- EN 62631-3-2:2016 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- EN IEC 62631-3-2:2023 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- EN 60247:2004 Isolierflüssigkeiten Messung der relativen Permittivität, des dielektrischen Verlustfaktors (tan $) und des spezifischen Gleichstromwiderstands
- EN 61788-16:2013 Supraleitung – Teil 16: Elektronische Kennlinienmessungen – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
- EN 61788-7:2006 Supraleitung Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
- EN 60404-13:2007 Magnetische Materialien – Teil 13: Methoden zur Messung der Dichte, des spezifischen Widerstands und des Stapelfaktors von Elektrostahlblechen und -bändern
Malaysia Standards, Widerstand des Polstückkörpers
- MS 1465 Pt.2-1999 Prüfverfahren zur Bestimmung des spezifischen Widerstands von Kunststoffen: Teil 2: spezifischer Volumenwiderstand
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Widerstand des Polstückkörpers
- GB/T 31838.2-2019 Feste Isoliermaterialien – Dielektrische und Widerstandseigenschaften – Teil 2: Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Volumenwiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand
- GB/T 31838.7-2021 Feste Isoliermaterialien – Dielektrische und Widerstandseigenschaften – Teil 7: Widerstandseigenschaften (DC-Methode) – Messung des Durchgangswiderstands und des Durchgangswiderstands bei erhöhten Temperaturen
- GB/T 31838.5-2021 Feste Isolierstoffe – Dielektrische und Widerstandseigenschaften – Teil 5: Widerstandseigenschaften (DC-Methode) – Volumenwiderstand und Durchgangswiderstand von Imprägnier- und Beschichtungsmaterialien
- GB/T 31838.3-2019 Feste Isolierstoffe – Dielektrische und Widerstandseigenschaften – Teil 3: Widerstandseigenschaften (Gleichstrommethoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- GB/T 19289-2019 Methoden zur Messung des spezifischen Widerstands, der Dichte und des Stapelfaktors von Elektrostahlbändern und -blechen
- GB/T 37977.23-2019 Elektrostatik – Teil 2-3: Prüfmethoden zur Bestimmung des Widerstands und der spezifischen Widerstandsfähigkeit fester planarer Materialien, die zur Vermeidung der Ansammlung elektrostatischer Ladung verwendet werden
- GB/T 39978-2021 Nanotechnologie – Spezifischer Widerstand von Kohlenstoffnanoröhrenpulver – Vier-Sonden-Methode
- GB/T 36358-2018 Optoelektronische Halbleiterbauelemente – Blanko-Detailspezifikation für Leistungsleuchtdioden
- GB/T 40719-2021 Gummi, vulkanisiert oder thermoplastisch – Bestimmung des Volumen- und/oder Oberflächenwiderstands
RU-GOST R, Widerstand des Polstückkörpers
- GOST R 50499-1993 Feste elektrische Isoliermaterialien. Methoden zur Prüfung des Volumenwiderstands und des Oberflächenwiderstands
- GOST 20398.13-1980 Feldeffekttransistoren. Technik zur Messung des Drain-Source-Widerstands
- GOST 19656.15-1984 Halbleiter-UHF-Dioden. Messmethoden für den thermischen Widerstand und den thermischen Impulswiderstand
- GOST 18604.10-1976 Bipolare Transistoren. Technik zur Messung des Eingangswiderstands
- GOST R ISO 13931-2015 Kohlenstoff-Faser. Methoden zur Bestimmung des Volumenwiderstands
- GOST 28106-1989 Kupferkathoden. Probenahme und Vorbereitung von Proben und Teststücken zur Bestimmung des elektrischen Widerstands
- GOST 30501-1997 Feste elektrische Isoliermaterialien. Verfahren zur Messung des elektrischen Widerstands und des spezifischen Widerstands bei erhöhten Temperaturen
- GOST 18604.27-1986 Leistungsfähige Hochspannungs-Bipolartransistoren. Messung der Kollektor-Basis-(Emitter-Basis)-Durchbruchspannung bei Emitter-(Kollektor-)Abschaltstrom
- GOST R ISO 10143-2016 Kohlenstoffhaltige Materialien zur Herstellung von Aluminium. Kalzinierter Koks für Elektroden. Bestimmung des elektrischen Widerstands von Granulat
- GOST R ISO 11713-2014 Kohlenstoffhaltige Materialien, die bei der Herstellung von Aluminium verwendet werden. Kathodenblöcke und gebackene Anoden. Bestimmung des elektrischen Widerstands bei Umgebungstemperatur
- GOST 18986.14-1985 Halbleiterdioden. Methoden zur Messung von Differenz- und Steigungswiderständen
- GOST R IEC 60247-2013 Isolierende Flüssigkeiten. Messung der relativen Permittivität, des dielektrischen Verlustfaktors (tan d) und des spezifischen Gleichstromwiderstands
- GOST 19438.3-1974 Elektronische Röhren und Ventile mit geringem Stromverbrauch. Methode zur Messung des Isolationswiderstands zwischen Elektroden sowie zwischen Elektroden und allen anderen Elementen von Rohren und Ventilen
- GOST 19656.3-1974 Halbleiter-UHF-Mischdioden. Messmethoden der Ausgangsimpedanz bei einer Zwischenfrequenz
- GOST 19656.10-1988 Halbleiter-Mikrowellen-Schalt- und Begrenzungsdioden. Methoden zur Messung von Verlustwiderständen
- GOST R 53734.2.3-2010 Elektrostatik. Teil 2.3. Prüfverfahren zur Bestimmung des Widerstands und der Widerstandsfähigkeit fester, planarer Materialien zur Vermeidung elektrostatischer Ladungsansammlung
- GOST 18604.9-1982 Bipolare Transistoren. Methoden zur Bestimmung der Grenzfrequenz und der Übergangsfrequenz
- GOST 18604.24-1981 Bipolare Hochfrequenztransistoren. Techniken zur Messung von Ausgangsleistung, Leistungsverstärkung und Kollektoreffizienz
- GOST 26169-1984 Elektromagnetische Verträglichkeit radioelektronischer Geräte. Standards für Intermodulationskomponentenkoeffizienten für bipolare Hochfrequenz-Lineartransistoren mit hoher Leistung
International Organization for Standardization (ISO), Widerstand des Polstückkörpers
- ISO 13931:2013 Kohlenstofffaser.Bestimmung des spezifischen Volumenwiderstands
- ISO 10143:2014 Kohlenstoffhaltige Materialien zur Herstellung von Aluminium – Kalzinierter Koks für Elektroden – Bestimmung des elektrischen Widerstands von Granulat
- ISO 10143:1995 Kohlenstoffhaltige Materialien zur Herstellung von Aluminium – Kalzinierter Koks für Elektroden – Bestimmung des elektrischen Widerstands von Granulat
- ISO 11713:2000 Kohlenstoffhaltige Materialien, die bei der Herstellung von Aluminium verwendet werden – Kathodenblöcke und gebackene Anoden – Bestimmung des elektrischen Widerstands bei Umgebungstemperatur
- ISO 10143:2019 Kohlenstoffhaltige Materialien zur Herstellung von Aluminium – Kalzinierter Koks für Elektroden – Bestimmung des elektrischen Widerstands von Granulat
- ISO/CD 11713:2023 Kohlenstoffhaltige Materialien, die bei der Herstellung von Aluminium verwendet werden – Kathodenblöcke und gebackene Anoden – Bestimmung des elektrischen Widerstands bei Umgebungstemperatur
- ISO 14309:2019 Gummi, vulkanisiert oder thermoplastisch – Bestimmung des Volumen- und/oder Oberflächenwiderstands
- ISO 14309:2011 Gummi, vulkanisiert oder thermoplastisch – Bestimmung des Volumen- und/oder Oberflächenwiderstands
Professional Standard - Petroleum, Widerstand des Polstückkörpers
- SY/T 6905-2012 Kalibrierungsverfahren für Flüssigkeitswiderstandswerkzeuge
- SY 6905-2012 Kalibrierungsmethode für Flüssigkeitswiderstandsmessgeräte
British Standards Institution (BSI), Widerstand des Polstückkörpers
- BS ISO 13931:2013 Kohlenstoff-Faser. Bestimmung des Volumenwiderstands
- BS EN 61788-11:2003 Supraleitung – Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb3Sn-Verbundsupraleitern
- BS EN 61788-4:2007 Supraleitung – Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti-Verbundsupraleitern
- BS EN IEC 61788-23:2021 Supraleitung. Messung des Restwiderstandsverhältnisses. Restwiderstandsverhältnis von Nb-Supraleitern in Hohlraumqualität
- BS EN 62631-3-1:2016 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien. Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden). Durchgangswiderstand und Volumenwiderstand. Allgemeine Methode
- BS EN IEC 62631-3-4:2019 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden). Durchgangswiderstand und Durchgangswiderstand bei erhöhten Temperaturen
- BS EN IEC 62631-3-1:2023 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien. Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden). Durchgangswiderstand und Volumenwiderstand. Allgemeine Methode
- BS EN IEC 62631-3-11:2018 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden). Durchgangswiderstand und Volumenwiderstand. Verfahren zur Imprägnierung und Beschichtung von Materialien
- BS EN 62631-3-2:2016 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien. Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden). Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- 19/30371735 DC BS EN IEC 62631-3-1. Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien. Teil 3-1. Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden). Durchgangswiderstand und Volumenwiderstand. Allgemeine Methode
- BS ISO 10143:2014 Kohlenstoffhaltige Materialien zur Herstellung von Aluminium. Kalzinierter Koks für Elektroden. Bestimmung des elektrischen Widerstands von Granulat
- BS ISO 10143:2019 Kohlenstoffhaltige Materialien zur Herstellung von Aluminium. Kalzinierter Koks für Elektroden. Bestimmung des elektrischen Widerstands von Granulat
- 21/30434324 DC BS EN IEC 62631-3-12. Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien. Teil 3-12. Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden). Durchgangswiderstand und Durchgangswiderstand, Verfahren zum Gießen von Harzen
- BS EN 60247:2004 Isolierflüssigkeiten – Messung der relativen Permittivität, des dielektrischen Verlustfaktors (tan) und des spezifischen Gleichstromwiderstands
- BS EN 61340-2-3:2016 Elektrostatik. Prüfverfahren zur Bestimmung des Widerstands und der spezifischen Widerstandsfähigkeit fester Materialien zur Vermeidung elektrostatischer Ladungsansammlung
- 23/30473276 DC BS EN IEC 61788-23. Supraleitung – Teil 23. Messung des Restwiderstandsverhältnisses. Restwiderstandsverhältnis von Nb-Supraleitern in Hohlraumqualität
- 19/30390197 DC BS EN 61788-23. Supraleitung. Teil 23. Messung des Restwiderstandsverhältnisses. Restwiderstandsverhältnis von Nb-Supraleitern
- BS 6043-3.6:2000 Methoden zur Probenahme und Prüfung von kohlenstoffhaltigen Materialien, die bei der Aluminiumherstellung verwendet werden. Elektroden. Bestimmung des elektrischen Widerstands von Kathodenblöcken und vorgebackenen Anoden bei Umgebungstemperatur
- BS EN 61340-2-3:2000 Elektrostatik. Prüfverfahren zur Bestimmung des Widerstands und der Widerstandsfähigkeit fester, planarer Materialien zur Vermeidung elektrostatischer Ladungsansammlung. Abschnitt 3: Prüfverfahren zur Bestimmung des Widerstands und der spezifischen Widerstandsfähigkeit fester flächiger Materialien u. a
- 19/30402599 DC BS EN IEC 61788-23. Supraleitung. Teil 23. Messung des Restwiderstandsverhältnisses. Restwiderstandsverhältnis von Nb-Supraleitern
- BS IEC 60747-5-8:2019 Halbleiterbauelemente. Optoelektronische Geräte. Leuchtdioden. Prüfverfahren für optoelektronische Wirkungsgrade von Leuchtdioden
- BS EN IEC 60404-13:2018 Magnetische Materialien. Methoden zur Messung des spezifischen Widerstands, der Dichte und des Stapelfaktors von Elektrostahlbändern und -blechen
- BS QC 400200:1983 Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Bauteile – Festwiderstände zur Verwendung in elektronischen Geräten – Rahmenspezifikation: Festwiderstände
- BS EN 61788-7:2002 Supraleitung – Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
- BS EN 61788-7:2007 Supraleitung – Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
- BS EN 60404-13:2007 Magnetische Materialien – Methoden zur Messung der Dichte, des spezifischen Widerstands und des Stapelfaktors von Elektrostahlblechen und -bändern
- BS ISO 14309:2011 Gummi, vulkanisiert oder thermoplastisch. Bestimmung des Volumen- und/oder Oberflächenwiderstands
- BS EN IEC 61788-7:2020 Supraleitung – Elektronische Kennlinienmessungen. Oberflächenwiderstand von Hochtemperatursupraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
- BS EN 61788-16:2013 Supraleitung. Elektronische Kennlinienmessungen. Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
- PD IEC TR 60747-5-12:2021 Halbleiterbauelemente. Optoelektronische Geräte. Leuchtdioden. Testmethode für die LED-Effizienz
- BS 6404-13:1996 Magnetische Materialien – Methoden zur Messung der Dichte, des spezifischen Widerstands und des Stapelfaktors von Elektrostahlblechen und -bändern
- BS ISO 14309:2019 Gummi, vulkanisiert oder thermoplastisch. Bestimmung des Volumen- und/oder Oberflächenwiderstands
- BS EN 61788-7:2006 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
American Society for Testing and Materials (ASTM), Widerstand des Polstückkörpers
- ASTM D1169-19 Standardtestverfahren für den spezifischen Widerstand (Widerstand) elektrischer Isolierflüssigkeiten
- ASTM D1169-19a Standardtestverfahren für den spezifischen Widerstand (Widerstand) elektrischer Isolierflüssigkeiten
- ASTM D1169-02e1 Standardtestverfahren für den spezifischen Widerstand (Widerstand) elektrischer Isolierflüssigkeiten
- ASTM D1169-02 Standardtestverfahren für den spezifischen Widerstand (Widerstand) elektrischer Isolierflüssigkeiten
- ASTM D1169-95 Standardtestverfahren für den spezifischen Widerstand (Widerstand) elektrischer Isolierflüssigkeiten
- ASTM D116-86(1999) Standardtestmethoden für verglaste Keramikmaterialien für elektrische Anwendungen
- ASTM D116-86(2011) Standardtestmethoden für verglaste Keramikmaterialien für elektrische Anwendungen
- ASTM D1169-09 Standardtestverfahren für den spezifischen Widerstand (Widerstand) elektrischer Isolierflüssigkeiten
- ASTM D1169-11 Standardtestverfahren für den spezifischen Widerstand (Widerstand) elektrischer Isolierflüssigkeiten
- ASTM C1876-23 Standardtestverfahren für den elektrischen Massenwiderstand oder die Massenleitfähigkeit von Beton
- ASTM C1876-19 Standardtestverfahren für den elektrischen Massenwiderstand oder die Massenleitfähigkeit von Beton
- ASTM D6120-97(2002) Standardtestmethode für den elektrischen Widerstand von Anoden- und Kathodenkohlenstoffmaterial bei Raumtemperatur
- ASTM D6120-97(2017)e1 Standardtestmethode für den elektrischen Widerstand von Anoden- und Kathodenkohlenstoffmaterial bei Raumtemperatur
- ASTM F673-90(1996)e1 Standardtestmethoden zur Messung des spezifischen Widerstands von Halbleiterscheiben oder des Schichtwiderstands von Halbleiterfilmen mit einem berührungslosen Wirbelstrommessgerät
- ASTM D2739-97 Standardtestmethode für den Volumenwiderstand leitfähiger Klebstoffe
- ASTM B193-02 Standardtestmethode für den spezifischen Widerstand elektrischer Leitermaterialien
- ASTM B193-00 Standardtestmethode für den spezifischen Widerstand elektrischer Leitermaterialien
- ASTM B193-01 Standardtestmethode für den spezifischen Widerstand elektrischer Leitermaterialien
- ASTM B193-87(1992) Standardtestmethode für den spezifischen Widerstand elektrischer Leitermaterialien
- ASTM B193-19 Standardtestmethode für den spezifischen Widerstand elektrischer Leitermaterialien
- ASTM B193-87 Standardtestmethode für den spezifischen Widerstand elektrischer Leitermaterialien
- ASTM B193-20 Standardtestmethode für den spezifischen Widerstand elektrischer Leitermaterialien
- ASTM B193-02(2008) Standardtestmethode für den spezifischen Widerstand elektrischer Leitermaterialien
- ASTM B193-02(2014) Standardtestmethode für den spezifischen Widerstand elektrischer Leitermaterialien
- ASTM B193-16 Standardtestmethode für den spezifischen Widerstand elektrischer Leitermaterialien
- ASTM G57-95a(2001) Standardtestmethode zur Feldmessung des Bodenwiderstands unter Verwendung der Wenner-Vier-Elektroden-Methode
- ASTM G57-95A Standardtestmethode zur Feldmessung des Bodenwiderstands unter Verwendung der Wenner-Vier-Elektroden-Methode
- ASTM G57-20 Standardtestmethode zur Messung des Bodenwiderstands unter Verwendung der Wenner-Vier-Elektroden-Methode
- ASTM G187-23 Standardtestmethode zur Messung des Bodenwiderstands mithilfe der Zwei-Elektroden-Soil-Box-Methode
- ASTM G187-18 Standardtestmethode zur Messung des Bodenwiderstands mithilfe der Zwei-Elektroden-Soil-Box-Methode
- ASTM G57-06(2012) Standardtestmethode zur Feldmessung des Bodenwiderstands unter Verwendung der Wenner-Vier-Elektroden-Methode
- ASTM A717/A717M-12 Standardtestverfahren für den Oberflächenisolationswiderstand von Einzelstreifenproben
- ASTM F81-00 Standardtestmethode zur Messung der radialen Widerstandsschwankung auf Siliziumwafern
- ASTM G187-05 Standardtestmethode zur Messung des Bodenwiderstands mithilfe der Zwei-Elektroden-Soil-Box-Methode
- ASTM G187-12 Standardtestmethode zur Messung des Bodenwiderstands mithilfe der Zwei-Elektroden-Soil-Box-Methode
- ASTM G187-12a Standardtestmethode zur Messung des Bodenwiderstands mithilfe der Zwei-Elektroden-Soil-Box-Methode
- ASTM G57-06 Standardtestmethode zur Feldmessung des Bodenwiderstands unter Verwendung der Wenner-Vier-Elektroden-Methode
- ASTM D2739-97(2017) Standardtestmethode für den Volumenwiderstand leitfähiger Klebstoffe
- ASTM D2739-97(2004) Standardtestmethode für den Volumenwiderstand leitfähiger Klebstoffe
- ASTM D2739-97(2010) Standardtestmethode für den Volumenwiderstand leitfähiger Klebstoffe
- ASTM C657-93(2008) Standardtestmethode für den DC-Volumenwiderstand von Glas
- ASTM F672-88(1995)e1 Standardtestmethode zur Messung von Widerstandsprofilen senkrecht zur Oberfläche eines Siliziumwafers unter Verwendung einer Ausbreitungswiderstandssonde
- ASTM C657-93(1998) Standardtestmethode für den DC-Volumenwiderstand von Glas
- ASTM C657-19 Standardtestmethode für den DC-Volumenwiderstand von Glas
- ASTM C657-93(2013) Standardtestmethode für den DC-Volumenwiderstand von Glas
- ASTM D5682-95 Standardtestmethoden für den elektrischen Widerstand flüssiger Farben und verwandter Materialien
- ASTM D5682-95(2002) Standardtestmethoden für den elektrischen Widerstand flüssiger Farben und verwandter Materialien
- ASTM D5682-08(2012) Standardtestmethoden für den elektrischen Widerstand flüssiger Farben und verwandter Materialien
- ASTM D5682-18 Standardtestmethoden für den elektrischen Widerstand flüssiger Farben und verwandter Materialien
- ASTM D5682-18(2023) Standardtestmethoden für den elektrischen Widerstand flüssiger Farben und verwandter Materialien
- ASTM D5682-08 Standardtestmethoden für den elektrischen Widerstand flüssiger Farben und verwandter Materialien
- ASTM F76-86(1996)e1 Standardtestmethoden zur Messung des spezifischen Widerstands und des Hall-Koeffizienten sowie zur Bestimmung der Hall-Mobilität in einkristallinen Halbleitern
- ASTM F76-86(2002) Standardtestmethoden zur Messung des spezifischen Widerstands und des Hall-Koeffizienten sowie zur Bestimmung der Hall-Mobilität in einkristallinen Halbleitern
- ASTM F76-08 Standardtestmethoden zur Messung des spezifischen Widerstands und des Hall-Koeffizienten sowie zur Bestimmung der Hall-Mobilität in einkristallinen Halbleitern
- ASTM D991-89(2000)e1 Standardtestverfahren für den Gummieigenschaften-Volumenwiderstand von elektrisch leitfähigen und antistatischen Produkten
- ASTM D991-89(2020) Standardtestverfahren für Gummieigenschaften – Volumenwiderstand von elektrisch leitfähigen und antistatischen Produkten
- ASTM D7148-19 Standardtestmethode zur Bestimmung des Ionenwiderstands (ER) eines Alkalibatterieseparators unter Verwendung einer Kohlenstoffelektrode in einem Elektrolytbad-Messsystem
- ASTM D7148-19a Standardtestmethode zur Bestimmung des Ionenwiderstands (ER) eines Alkalibatterieseparators unter Verwendung einer Kohlenstoffelektrode in einem Elektrolytbad-Messsystem
Professional Standard - Aerospace, Widerstand des Polstückkörpers
- QJ 2220.2-1992 Prüfverfahren für elektrische Isolationseigenschaften von Beschichtungen Prüfverfahren für Isolationswiderstand, Oberflächenwiderstand und Volumenwiderstand
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Widerstand des Polstückkörpers
- JJF 1760-2019 Kalibrierungsspezifikation für Standardscheiben mit einkristallinem Siliziumwiderstand
- JJF 1618-2017 Kalibrierungsspezifikation für Messgeräte für den dielektrischen Verlustfaktor und den spezifischen Volumenwiderstand von Isolieröl
Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, Widerstand des Polstückkörpers
- DB52/T 843-2013 RR6363 Hochleistungs-Chip-Dickschicht-Festwiderstand
- DB52/T 928-2014 Festelektrolyt-Tantal-Festkondensator vom Typ CA45S mit fester Elektrode und Chip
Professional Standard - Electricity, Widerstand des Polstückkörpers
- DL/T 421-2009 Bestimmung des spezifischen Volumenwiderstands von Kraftölen
- DL 421-1991 Verfahren zur Bestimmung des spezifischen Volumenwiderstands von Isolieröl
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Widerstand des Polstückkörpers
- CNS 13727-1996 Testmethode für den Volumenwiderstand leitfähiger Klebstoffe
- CNS 14811-2004 Testmethode zur Feldmessung des Bodenwiderstands unter Verwendung der Wenner-Vier-Elektroden-Methode
- CNS 13623-1995 Testmethoden zur Messung des spezifischen Widerstands, des Hall-Koeffizienten und der Bestimmung der Hall-Mobilität in einkristallinen Halbleitern (Van-der-Pauw-Methode)
- CNS 7012-1981 Prüfverfahren für die Kollektor-Basis-Zeitkonstante und für den Widerstandsteil der gemeinsamen Emitter-Eingangsimpedanz
- CNS 5129-1988 Messmethoden für den elektrischen Widerstand und die Leitfähigkeit von Nichteisenmaterialien
工业和信息化部, Widerstand des Polstückkörpers
- SJ/T 11627-2016 Online-Testverfahren für den Widerstand von Siliziumwafern für Solarzellen
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Widerstand des Polstückkörpers
- JEDEC JESD24-11-1996 Leistungs-MOSFET-äquivalente Gate-Widerstandstestmethode, Ergänzung zu JEDEC JESD 24
工业和信息化部/国家能源局, Widerstand des Polstückkörpers
- JB/T 13537-2018 Prüfverfahren für den Volumenwiderstand von leitfähigem Pulver zur elektromagnetischen Abschirmung
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Widerstand des Polstückkörpers
- EN 61788-11:2003 Supraleitung Teil 11: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb3Sn-Verbundsupraleitern
- EN IEC 62631-3-4:2019 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-4: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Durchgangswiderstand und Durchgangswiderstand bei erhöhten Temperaturen
- EN 61788-4:2001 Supraleitung Teil 4: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti-Verbundsupraleitern
- EN 61788-4:2007 Supraleitung – Teil 4: Messung des Restwiderstandsverhältnisses – Restwiderstandsverhältnis von Nb-Ti-Verbundsupraleitern
- EN IEC 62631-3-11:2018 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-11: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand – Verfahren für Imprägnierungs- und Beschichtungsmaterialien
- PREN 50359-1-2-2000 Erweiterte technische Keramik Teil 1-2: Elektrische Eigenschaften – Bestimmung des Oberflächen- und Volumenwiderstands im Temperaturbereich 20 °C bis 800 °C
- EN 61788-7:2002 Supraleitung Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
- EN IEC 60404-13:2018 Magnetische Materialien – Teil 13: Methoden zur Messung des spezifischen Widerstands, der Dichte und des Stapelfaktors von Elektrostahlbändern und -blechen
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Widerstand des Polstückkörpers
- GJB 8681-2015 Kalibrierverfahren für Leitfähigkeits- und Volumenwiderstandsmessgeräte für feste Sprengstoffe
- GJB 737.3-1989 Prüfmethoden für Pyrotechnik und Oberflächenwiderstand
- GJB 1432/1-2011 Detailspezifikation für Festfilm-Chipwiderstände mit bewährter Zuverlässigkeit, Typ RMK3216
- GJB 1432/2-2011 Detailspezifikation für Festfilm-Chipwiderstände mit bewährter Zuverlässigkeit, Typ RMK2012
HU-MSZT, Widerstand des Polstückkörpers
ES-UNE, Widerstand des Polstückkörpers
- UNE-EN 62631-3-1:2016 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand – Allgemeine Methode (Von AENOR im August 2016 gebilligt.)
- UNE-EN 62631-3-2:2016 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand (Von AENOR im April 2016 gebilligt.)
- UNE-EN 61340-2-3:2016 Elektrostatik – Teil 2-3: Prüfmethoden zur Bestimmung des Widerstands und der spezifischen Widerstandsfähigkeit fester Materialien zur Vermeidung der Ansammlung elektrostatischer Ladung (von AENOR im November 2016 gebilligt.)
- UNE-EN 61788-16:2013 Supraleitung – Teil 16: Elektronische Charakteristikmessungen – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen (Befürwortet von AENOR im Mai 2013.)
- UNE-EN 60247:2004 ERRATUM:2005 Isolierflüssigkeiten – Messung der relativen Permittivität, des dielektrischen Verlustfaktors (tan d) und des spezifischen Gleichstromwiderstands
- UNE-EN IEC 62631-3-2:2023 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (Gleichstrommethoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Januar 2024.)
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Widerstand des Polstückkörpers
- DB13/T 5026.3-2019 Methode zur Bestimmung der physikalischen Eigenschaften von leitfähiger Graphenpaste Teil 3: Vier-Sonden-Methode zur Bestimmung des Elektrodenwiderstands von Paste
- DB13/T 5537-2022 Bestimmung des spezifischen Widerstands von nematischem thermotropem Flüssigkristallmonomer mittels Gleichspannungsmethode
RO-ASRO, Widerstand des Polstückkörpers
- STAS 6107-1981 FESTE ELEKTRISCHE ISOLIERMATERIALIEN Methoden zur Prüfung des Volumen- und Oberflächenwiderstands sowie des Isolationswiderstands
- STAS 11543-1982 ELEKTRISCHE ISOLIERMATERIALIEN Prüfverfahren für den Isolationswiderstand und den spezifischen Durchgangswiderstand bei erhöhten Temperaturen
- STAS 12123/2-1983 Halbleiterbauelemente NIEDRIGE LEISTUNGSSIGNALDIODEN, EINSCHLIESSLICH SCHALTDIODEN Messmethoden für elektrische Eigenschaften
Danish Standards Foundation, Widerstand des Polstückkörpers
- DS/EN 28 430-1:1992 Widerstandspunktschweißen - Elektrodenhalter - Teil 1: Konusbefestigung 1 : 10
- DS/EN 61788-16:2013 Supraleitung – Teil 16: Elektronische Kennlinienmessungen – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
- DS/EN 61340-2-3:2001 Elektrostatik – Teil 2-3: Prüfverfahren zur Bestimmung des Widerstands und der spezifischen Widerstandsfähigkeit fester planarer Materialien, die zur Vermeidung der Ansammlung elektrostatischer Ladung verwendet werden
- DS/EN 60247:2004 Isolierflüssigkeiten – Messung der relativen Permittivität, des dielektrischen Verlustfaktors (tan phi) und des spezifischen Gleichstromwiderstands
Professional Standard-Ships, Widerstand des Polstückkörpers
- CB/Z 166-1979 Messmethode für den spezifischen Volumenwiderstand ρv von piezoelektrischen Keramikmaterialien
Professional Standard - Earthquake, Widerstand des Polstückkörpers
- DB/T 33.1-2009 Seismische geoelektrische Beobachtungsmethode Georesistivitätsbeobachtung Teil 1: Beobachtung der Einzelpolentfernung
- DB/T 33.2-2009 Seismische geoelektrische Beobachtungsmethode Georesistivitätsbeobachtung Teil 2: Multipol-Entfernungsbeobachtung
Professional Standard - Petrochemical Industry, Widerstand des Polstückkörpers
- SH/T 0019-1990 Bestimmung des spezifischen Volumenwiderstands von Erdölwachs und Erdölfett
Professional Standard - Geology, Widerstand des Polstückkörpers
- DZ/T 0276.16-2015 Verordnung zur Prüfung der physikalischen und mechanischen Eigenschaften von Gesteinen. Teil 16: Prüfung zur Bestimmung des Volumenwiderstands und des Oberflächenwiderstands von Gestein
AT-OVE/ON, Widerstand des Polstückkörpers
- OVE EN IEC 62631-3-1:2021 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isolierstoffe – Teil 3-1: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (DC-Methoden) – Durchgangswiderstand und spezifischer Durchgangswiderstand – Allgemeine Methode (IEC 112/504/CDV) (englische Version)
Professional Standard - Machinery, Widerstand des Polstückkörpers
- JB/T 9437-1999 Trockenentwickler für den xerografischen Druck – Prüfverfahren für den Trägerwiderstand
- JB/T 9437-2013 Testverfahren für den spezifischen Widerstand des Trägers eines elektrostatischen Trockenentwicklers
Standard Association of Australia (SAA), Widerstand des Polstückkörpers
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- IEC 62631-3-2:2023 Dielektrische und Widerstandseigenschaften fester Isoliermaterialien – Teil 3-2: Bestimmung der Widerstandseigenschaften (Gleichstrommethoden) – Oberflächenwiderstand und Oberflächenwiderstand
- IEC 61340-2-3:2016/COR1:2023 Berichtigung 1 – Elektrostatik – Teil 2-3: Prüfverfahren zur Bestimmung des Widerstands und der spezifischen Widerstandsfähigkeit fester Materialien, die zur Vermeidung der Ansammlung elektrostatischer Ladung verwendet werden
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- ICEA T-25-425-2015 LEITFADEN ZUR Etablierung der Stabilität des Volumenwiderstands für halbleitende Polymerkomponenten von Leistungskabeln
ICEA - Insulated Cable Engineers Association Inc., Widerstand des Polstückkörpers
- T-25-425-2015-2015 LEITFADEN ZUR Etablierung der Stabilität des Volumenwiderstands für halbleitende Polymerkomponenten von Leistungskabeln
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The American Road & Transportation Builders Association, Widerstand des Polstückkörpers
- AASHTO TP 119-2015 Standardmethode zur Prüfung des elektrischen Widerstands eines Betonzylinders, getestet in einem einachsigen Widerstandstest
- AASHTO TP 119-2021 Standardmethode zur Prüfung des elektrischen Widerstands eines Betonzylinders, getestet in einem einachsigen Widerstandstest
Professional Standard - Non-ferrous Metal, Widerstand des Polstückkörpers
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- YS/T 587.6-2006 Kalzinierter Koks für vorgebackene Blöcke. Testmethoden. Teil 6: Bestimmung des elektrischen Widerstands von Granulat
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Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Widerstand des Polstückkörpers
- GJB 5891.7-2006 Prüfverfahren für das Laden von Material zur Zündung von Sprengkörpern, Teil 7: Messung des Volumen- und Oberflächenwiderstands
American National Standards Institute (ANSI), Widerstand des Polstückkörpers
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ES-AENOR, Widerstand des Polstückkörpers
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TR-TSE, Widerstand des Polstückkörpers
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