무중력 극편

모두 38항목의 무중력 극편와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 무중력 극편와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 씰, 씰링 장치, 반도체 개별 장치, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 비철금속, 화학 제품, 표면 처리 및 도금, 무선 통신, 도체 재료, 항공우주 제조용 재료.

American Society for Testing and Materials (ASTM), 무중력 극편

ASTM F495-99a 고온에 노출된 개스킷 재료의 중량 손실에 대한 표준 테스트 방법
ASTM F495-99a(2019) 고온에 노출된 개스킷 재료의 중량 손실에 대한 표준 테스트 방법

Defense Logistics Agency, 무중력 극편

DLA SMD-5962-90538 REV D-2003 실리콘 모놀리식, 쿼드 쇼트키 다이오드 어레이, 선형 마이크로회로
DLA SMD-5962-97572 REV A-2006 4중 2입력 전용 실리콘 모놀리식 디지털 바이폴라 마이크로회로
DLA SMD-5962-97577 REV A-2006 4중 2입력 포지티브 AND 게이트 실리콘 모놀리식 디지털 바이폴라 마이크로회로
DLA SMD-5962-97578 REV A-2006 4중 2입력 포지티브 AND 게이트 실리콘 모놀리식 디지털 바이폴라 마이크로회로
DLA SMD-5962-97579 REV A-2006 삼중 3 입력 포지티브 AND 게이트 실리콘 모놀리식 디지털 바이폴라 마이크로회로
DLA DSCC-VID-V62/09610-2008 마이크로 회로, 디지털, 삼중 버퍼/드라이버, 오픈 드레인 출력 포함, 모놀리식 실리콘
DLA SMD-5962-88584 REV B-2002 실리콘 모놀리식 바이폴라 쿼드 16진수 NTDS 고속/재수신기 선형 마이크로회로
DLA SMD-5962-97560 REV A-2006 4배 2 입력 포지티브 AND 게이트 트랜지스터 실리콘 모놀리식 회로 디지털 양극 마이크로 회로
DLA SMD-5962-97561 REV A-2006 3중 3 입력 포지티브 AND 게이트 트랜지스터 실리콘 모놀리식 회로 디지털 양극 마이크로 회로
DLA SMD-5962-90633 REV A-2006 실리콘 모놀리식, 4중 양극 접합 전계 효과 트랜지스터, 연산 증폭기, 선형 미세 회로
DLA SMD-5962-87754 REV B-2011 초소형 회로, 디지털, 고속 CMOS, 아날로그 Mux/Demux, 삼중 단극, 이중 비트, 모놀리식 실리콘
DLA SMD-5962-97541 REV A-2006 양극 저전압 4중 2 입력 포지티브 AND 게이트 버퍼 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
DLA SMD-5962-94522 REV A-2001 실리콘 모놀리식, TTL 호환 입력 및 출력, 프로그래밍 가능 저왜곡 클록 드라이버, 산화물 반도체 양극 디지털 마이크로회로
DLA SMD-5962-96815 REV A-2000 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 4중 2입력 전용 AND 게이트 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
DLA SMD-5962-94559 REV A-1994 실리콘 모놀리식, 듀얼 4입력 NAND 슈미트 트리거, 향상된 쇼트키 TTL, 양극 디지털 마이크로회로
DLA SMD-5962-96618 REV B-1997 방사선 경질 보완 금속 산화물 반도체 이중 보완 추가 인버터 실리콘 모놀리식 회로 디지털 초소형 회로
DLA SMD-5962-97580 REV A-2006 조정 가능한 듀얼 JK 포지티브 트리거 3상태 출력 쌍안정 멀티바이브레이터 실리콘 모놀리식 회로 디지털 바이폴라 마이크로회로
DLA SMD-5962-84011 REV G-2005 실리콘 모놀리식, D형 이중 포지티브 에지 트리거 플립플롭(리셋 클리어 키 포함), TTL 쇼트키 고급 저전력 바이폴라 디지털 마이크로 회로
DLA SMD-5962-96768 REV A-2003 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 쿼드 버스 3상태 출력 버퍼, 트랜지스터 호환 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
DLA SMD-5962-92314 REV C-1997 실리콘 모놀리식, TTL 호환 입력, 이중 활성화 및 3상태 출력을 갖춘 8비트 래치형 트랜시버, 향상된 양극 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
DLA SMD-5962-89950 REV A-2006 실리콘 모놀리식, TTL 호환 입력, 동기식 리셋 클리어 키가 있는 듀얼 네거티브 에지 트리거 JK 플립플롭, 수정된 쇼트키 TTL, 양극 디지털 마이크로회로

Association Francaise de Normalisation, 무중력 극편

NF A91-407:1981 알루미늄 및 알루미늄 합금의 아노다이징 처리(양극 산화) 산성 용액에 담근 후 중량 손실을 측정하여 씰 품질 평가

International Organization for Standardization (ISO), 무중력 극편

ISO 12988-1:2000 알루미늄 생산에 사용되는 탄소 재료의 소성 양극의 이산화탄소 반응성 측정 1부: 중량 감량 방법
ISO 12989-1:2000 알루미늄 생산에 사용되는 탄소 재료의 소성 양극 및 탄소 블록의 공기 반응성 측정 - 1부: 중량 감량 방법

PT-IPQ, 무중력 극편

NP 2907-1987 양극산화 알루미늄. 코팅 검사. 인 함유 용액에 담근 후. 체중 감량 측정
NP EN 12373-6-2001 알루미늄 및 알루미늄 합금. 아노다이징 처리. 파트 6: 인산(또는 크롬산)을 함유한 침지 처리 후. 양극 산화 표면 코팅의 중량 손실 계산
NP EN 12373-7-2001 알루미늄 및 알루미늄 합금. 아노다이징 처리. 파트 7: 인산(또는 크롬산)을 함유한 침지 처리 후. 양극 산화 표면 코팅의 중량 손실 계산

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 무중력 극편

GB/T 8753.1-2017 알루미늄 및 알루미늄 합금의 양극 산화막 밀봉 품질 평가 방법 1부: 산 에칭 중량 감소 방법

TR-TSE, 무중력 극편

TS 2675-1977 알루미늄 및 알루미늄 합금의 아노다이징. 산성 용액에 담근 후 중량 손실을 측정하여 씰 품질 평가
TS 2676-1977 알루미늄 및 알루미늄 합금의 아노다이징. 인으로 측정합니다. 크롬산 용액으로 에칭한 후의 중량 감소는 밀봉 품질을 평가하는 데 사용됩니다.

British Standards Institution (BSI), 무중력 극편

BS EN 12373-7:2002 알루미늄 및 알루미늄 합금 아노다이징 이전에 산 처리된 인/크롬산 용액에 담근 후 중량 손실을 측정하여 밀봉된 아노다이징 코팅의 품질을 평가합니다.

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 무중력 극편

YS/T 63.1-2006 알루미늄용 탄소재료의 시험방법 1부 : 음극 페이스트 샘플의 로스팅 방법, 로스팅 중량 감소 결정 및 생지 시편의 겉보기 밀도 결정

工业和信息化部, 무중력 극편

YS/T 63.1-2019 알루미늄용 탄소재료의 시험방법 1부 : 음극 페이스트 샘플의 로스팅 방법, 로스팅 중량 감소 결정 및 생지 시편의 겉보기 밀도 결정

未注明发布机构, 무중력 극편

BS EN 3638:2007(2009) 항공우주 시리즈 — 내열 합금 FE - PA2601(X6NiCrTiMoV26 - 15) — 소모성 전극 재용해 — 용액 및 석출 처리 — 시트, 스트립 및 플레이트 — 0.5mm  a  10mm

European Association of Aerospace Industries, 무중력 극편

AECMA PREN 2773-1999 항공 및 항공우주 시리즈 강철 FE-PM3801(X5CrNiCu17-4) 소모성 전극 재용융 액체 처리 및 침전 처리 정제 및 스트립 6mm 이하, Rm≥1310MPa
AECMA PREN 2774-1999 항공 및 항공우주 시리즈 강철 FE-PM3801(X5CrNiCu17-4) 소모성 전극 재용융 액체 처리 및 침전 처리 정제 및 스트립 6mm 이하, Rm≥1310MPa