G04 基础标准与通用方法 标准查询与下载
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本标准规定了用于表面元素和化学态分析的俄歇电子能谱的动能标校准方法。并且还规定了校准日程安排,用于在中间某一能量值测试动能标线性、在高低动能区各取一点确认标尺校准的不确定度、校正标尺小漂移以及规定在95%置信度时该动能标校准的扩展不确定度(这个不确定度包括实验室之间研究中观察到的各种现象,但不涵盖所有可能的缺陷)。本标准仅适用于配备溅射清洁离子枪的仪器。不适用于以下情况的仪器:动能标尺的误差随能量明显非线性变化;工作于谱仪的相对分辨率低于0.2%的固定△E/E模式或固定△E为1.5 eV模式时,要求容差极限为±0.05 eV或更小。也不适用于电子枪不能在5 keV~10 keV能量范围操作的仪器。本标准不提供全标尺校准检验,该检验要对每一个在能量标尺上能设定的点加以验证,且应按仪器制造商的推荐程序进行。
Surface chemical analysis.High-resolution Auger electron spectrometers.Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2013-09-18
- 实施
- 2014-06-01
本标准规定了 SDS中16个部分内容的编写细则、SDS的格式、SDS的书写要求和计量单位要求。本标准适用于SDS的编制。
Guidance on the compilation of safety data sheet for chemical products
- ICS
- 01.040.71;71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2013-09-06
- 实施
- 2014-01-31
本标准规定了辉光放电原子发射光谱法分析锌和/或铝基合金镀层中镀层厚度、镀层质量(单位面积)和金属镀层中化学成分。需要考虑的合金化元素有镍、铁、硅、铅和锑。本标准适用的元素质量分数范围:锌(0.01%~100%),铝(0.01%~100%),镍(0.01%~20%),铁(0.01%~20%),硅(0.01%~10%),铅(0.005%~2%),锑(0.005%~2%)。
Surface chemical analysis.Analysis of zinc and/or aluminium based metallic coatings by glow discharge optical emission spectrometry
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2013-07-19
- 实施
- 2014-03-01
针对于常规分析使用的电子枪能量至少为2 keV的俄歇电子能谱仪,本标准规定了一种评估其强度标的重复性和恒定性的方法。它仅适用于配备了溅射清洁用离子枪的仪器。本标准并非旨在成为一种强度/能量响应函数的校准,这种校准可由仪器厂商或者其他机构制定。本方法提供数据以评估和确认仪器使用中强度/能量响应函数保持恒定的精度,对可影响这种恒定性的一些仪器设置给出了指导。
Surface chemical analysis.Auger electron spectroscopy.Repeatability and constancy of intensity scale
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2013-07-19
- 实施
- 2014-03-01
本标准规定了电子背散射衍射分析方法”本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析。
Microbeam analysis.General guide for electron backscatter diffraction analysis
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2013-07-19
- 实施
- 2014-03-01
本标准规定了电子探针仪〈EPMA〉和扫描电子显微镜(SEM〉的X射线波谱仪(WDS〉和能谱仪(EDS)对硅酸盐玻璃的定量分析方法。 本标准适用于硅酸盐玻璃试样〔包括碱金眉的硅酸盐玻璃)的波谱法〈WDX〉和能谱法〈EDX〉的定量分析。
Microbeam analysis.Quantitative analysis of silicate glass by wavelength dispersive X-ray spectrometry and energy dispersive X-ray spectrometry
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2013-07-19
- 实施
- 2014-03-01
本标准规定了溅射深度剖析中测量溅射深度的准则。本标准适用于结合离子轰击剥离部分固体样品的表面化学分析技术,通常溅射深度可达几微米。
Surface chemical analysis.Depth Profiling.Measurment of sputtered depth
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2013-07-19
- 实施
- 2014-03-01
本标准规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测量方法。本标准适用于俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率、分析面积和分析器的检测。
Surface chemical analysis.Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.Determination of lateral resolution,analysis area,and sample area viewed by the analyser
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2013-07-19
- 实施
- 2014-03-01
本标准规定了表面化学分析样品的处理和存放容器的要求。本标准适用于表面化学分析设备的用户了解表面化学分析技术的特殊样品处理要求，特别是俄歇电子能谱（AES）、二次离子质谱（SIMS）和X射线光电子能谱（XPS或ESCA）。本标准也适用于对表面组成敏感的其他分析技术，如TXRF.对于特定的实例，特定的样品，需要更加注意。
Surface chemical analysis.Handing of specimens prior to analysis
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2012-11-05
- 实施
- 2013-06-01
本标准规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的峰强度测量的分析结果报告中所要求的必要信息。提供了峰强度测量方法和所得峰面积的不确定度信息。
Surface chemical analysis.Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2012-11-05
- 实施
- 2013-06-01
本标准规定了如何描述X射线光电子能谱仪的特定性能。
Surface chemical analysis.X-ray photoelectron spectroscopy.Description of seleted instrumental performance parameters
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2012-11-05
- 实施
- 2013-06-01
警示：试样在熔融状态下可能会产生有害及腐蚀性气体，实验人员应对样品有足够了解，避免对人员及仪器造成的伤害。 范围：本标准规定了差示扫描量热法测定熔点的原理、仪器设备、分析步骤、实验报告及精度。 本标准适用于具有明确熔点的热稳定性有机化学品的熔点测定。
Determination of melting temperature for chemicals(pharmaceuticals).Differential scanning calorimetry(DSC)
- ICS
- 71.040.01
- CCS
- G04
- 发布
- 2012-09-03
- 实施
- 2013-02-01
本标准规定了固体有机化学品纯度测定的差示扫描量热法。 本标准适用于具有明确熔点的热稳定同体有机化学品的纯度测定'其给出的是试样中杂质的总含量y而不能得出单一杂质的含量”
Determination of purity for chemicals (pharmaceuticals).Differential scanning calorimetry(DSC)
- ICS
- 71.040.01
- CCS
- G04
- 发布
- 2012-09-03
- 实施
- 2013-02-01
本标准规定了三种条件下测量俄歇电子能谱仪和X射线光电子能谱仪横向分辨率的方法。直边法适用于横向分辨率预期值大于1μm的仪器。栅格法适用于横向分辨率预期值大于20nm，小于1μm的仪器。金岛法则适用于横向分辨率预期值小于50nm的仪器。 附录A、附录B和附录C给出了测量横向分辨率的带图的实例。
Surface chemical analysis.Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.Determination of lateral resolution
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2012-07-31
- 实施
- 2013-02-01
本标准规定了常规分析中]种评估X射线光电子能谱仪强度标的二茎复性和一致性的方法,采用非单色Al/Mg或单色Al X射线源”本标准只适用于装有溅射离子枪的仪器″本标准不做强度/能量响应函数的校准。 此校准应由仪器制造厂家或其他合格机构完成』本标准提供的数据用于评估和确认仪器使用期间强度/能量响应函数保持恒定的准确度。 本标准提供了]些可能会影响]致性的仪器设置指导意见o 2 符号及缩略语
Surface chemical analysis.X-ray photoelectron spectroscopy.Repeatability and constancy of intensity scale
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2012-07-31
- 实施
- 2013-02-01
本标准规定了有关工业用化学产品采样的最常用的术语。
Chemical products for industrial use.Sampling.Vocabulary
- ICS
- 01.040.71;71.040
- CCS
- G04
- 发布
- 2012-06-29
- 实施
- 2012-12-01
本标准规定了涂料中全氟辛酸(PFOA)及其盐的高效液相色谱-串联质谱测定方法。 本标准适用于涂料中全氟辛酸(PFOA)及其盐的测定。 本标准的方法检出限以全氟辛酸(PFOA)计为质量分数0.0002%。
Determination of perfluorooctanoic acid and salt in the coating. High performance liquid chromatography-tandem mass spectrometry
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2012-06-29
- 实施
- 2012-12-01
本标准规定了化工产品密度和相对密度测定的术语和定义、固体、液体和气体化工产品的密度和相对密度测定的方法。 本标准适用于一般化工产品密度和相对密度的测定。 本标准不适用于炭黑、开孔式泡沫橡胶或塑料等特殊状态的化工产品密度、相对密度的测定。
Detemination of density and relative density for chemical products
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2011-12-30
- 实施
- 2012-10-01
本标准规定了纳米材料超双疏性能检测方法的术语和定义、方法原理、仪器和试剂、样品制备、检测条件、检测步骤及结果评定、检测报告等。 本标准适用于检测经纳米技术进行处理的材料的超疏水和超疏油性能，材料表面应是均匀、光滑、不变形（在液体表面张力的垂直分量作用下）和各向同性的固体表面。
Methods for measuring super hydrophobicity of nanomaterials
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2011-05-12
- 实施
- 2012-02-01
本标准规定了纳米材料超双亲性能检测方法的术语及定义、方法原理、仪器和试剂、样品制备、检测条件、检测步骤及结果评定、检测报告等。 本标准适用于检测经纳米技术处理，组成均匀、光滑、不变形（在液体表面张力的垂直分量的作用下）和各向同向性的固体表面超双亲性能。 本标准不适用于能够吸收所测液体的材料。
Methods for measuring super amphiphilicity of nanomaterials
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2011-05-12
- 实施
- 2012-02-01
