L56 半导体集成电路 标准查询与下载

GB 3431.2-1986 半导体集成电路文字符号 引出端功能符号

Semiconductor integrated circuit word symbol lead-out function symbol

GB/T 3434-1986 半导体集成电路ECL电路系列和品种

本标准规定了半导体集成电路ECL电路（以下简称器件）系列和品种的逻辑功能、外引线排列和主要电参数。 生产（研制）或选用器件时，其系列和品种应符合本标准的规定。 本标准是参考国际通用的ECL电路系列和品种制订的。 若无特殊说明，本标准涉及的逻辑均为正逻辑。

Families and products of ECL circuits for semiconductor integrated circuits

GB/T 4855-1984 半导体集成电路线性放大器系列和品种

本标准规定了半导体集成电路线性放大器（以下简称器件）各系列和品种的外引线排列、推荐线路和主要电参数。

Families and products of linear amplifier for semiconductor integrated circuits

T/CIE 133-2022 磁随机存储器件数据保持时间测试方法

Test method for data retention time of magnetic random access memory device

T/CIE 134-2022 磁随机存储芯片数据保持时间测试方法

Test method for data retention time of magnetic random access memory chip

YD/T 3944-2021 人工智能芯片基准测试评估方法

Artificial Intelligence Chip Benchmark Test Evaluation Method

BS EN IEC 61967-4:2021 集成电路. 电磁辐射测量. 第4部分: 电导辐射测量. 1～150Ω直接耦合法

Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions. Measurement of conducted emissions. 1 O/150 O direct coupling method

T/CIE 075-2020 工业级高可靠集成电路评价 第10部分：温度传感器

本文件规定了工业级高可靠温度传感器检测验收的检测要求、检测方法和检验规则等。 本文件适用于工业级高可靠温度传感器（模拟传感器）的鉴定验收和评价检测活动。

Evaluation of Industrial High Reliability Integrated Circuits Part 10: Temperature Sensors

T/CIE 070-2020 工业级高可靠集成电路评价 第4部分：非易失性存储器

本文件规定了工业级高可靠非易失性存储器中的快闪存储器芯片（以下简称芯片）的检测要求、检测方法和检验规则等，暂不涉及ROM。 本文件适用于工业级高可靠快闪存储器芯片以及内嵌非易失性存储器芯片的鉴定验收和评价检测活动。

Evaluation of Industrial High-Reliability Integrated Circuits Part 4: Non-Volatile Memories

T/CIE 081-2020 工业级高可靠集成电路评价 第16部分：高频射频识别

本文件规定了工业级高频射频识别芯片（以下简称芯片）的检测要求、检测方法和检验规则等。 本文件适用于符合ISO15693协议的高频射频识别芯片的鉴定验收和评价检测活动。

Evaluation of Industrial High Reliability Integrated Circuits Part 16: High Frequency Radio Frequency Identification

T/CIE 078-2020 工业级高可靠集成电路评价 第13部分：湿度传感器

本文件规定了工业级高可靠湿度传感器检测验收的检测要求、检测方法和检验规则等。 本文件适用于工业级电容式湿度传感器的鉴定验收和评价检测活动。

Evaluation of Industrial High Reliability Integrated Circuits Part 13: Humidity Sensors

T/CIE 079-2020 工业级高可靠集成电路评价 第14部分：图像传感器

本文件规定了工业级高可靠图像传感器的检测要求、检测方法和检验规则等。 本文件适用于工业级高可靠图像传感器（CMOS、CCD）的鉴定验收和评价检测活动。

Evaluation of Industrial High Reliability Integrated Circuits Part 14: Image Sensors

T/CIE 076-2020 工业级高可靠集成电路评价 第11部分：压力传感器

本文件规定了工业级高可靠的压力传感器检测验的检测要求、检测方法和检验规则等 本文件适用于绝压传感器、负压传感器、差压传感器、表压传感器等半导体压力传感器的鉴定验收和评价检测活动。

Evaluation of Industrial High Reliability Integrated Circuits Part 11: Pressure Sensors

T/CIE 077-2020 工业级高可靠集成电路评价 第12部分：倾角传感器

本文件规定了工业级高可靠倾角传感器检测验收的检测要求、检测方法和检验规则等。 本文件适用于工业级高可靠倾角传感器的鉴定验收和评价检测活动。

Evaluation of Industrial High Reliability Integrated Circuits Part 12: Inclination Sensors

T/CIE 073-2020 工业级高可靠集成电路评价 第8部分：微控制器（MCU）

本文件规定了面向工业应用的MCU芯片（以下简称芯片）的检测要求、检测方法和检验规则等。 本文件适用于面向工业应用的MCU芯片的鉴定验收和评价检测活动。

Evaluation of Industrial High Reliability Integrated Circuits Part 8: Microcontrollers (MCUs)

T/CIE 072-2020 工业级高可靠集成电路评价 第7部分：AD和DA转换器

本文件规定了工业级高可靠AD转换器(以下简称ADC)和DA转换器（以下简称DAC）的检测要求、检测方法和检验规则等。 本文件适用于工业级高可靠AD转换器和DA转换器的鉴定验收和评价检测活动。

Evaluation of Industrial High Reliability Integrated Circuits Part 7: AD and DA Converters

T/CIE 080-2020 工业级高可靠集成电路评价 第15部分：超高频射频识别

本文件规定了工业级超高频射频识别芯片（以下简称芯片）的检测要求、检测方法和检验规则等。 本文件适用于符合ISO/IEC 18000-63协议的超高频射频识别芯片的鉴定验收和评价检测活动。

Evaluation of Industrial High Reliability Integrated Circuits Part 15: UHF Radio Frequency Identification

T/CIE 068-2020 工业级高可靠集成电路评价 第2部分：DC/DC变换器

本文件规定了工业级高可靠DC/DC变换器的检测要求、检测方法和检验规则等。 本文件适用于工业级高可靠DC/DC变换器的鉴定验收和评价检测活动。

Evaluation of Industrial High Reliability Integrated Circuits Part 2: DC/DC Converters

IEC 62435-4:2018 电子元件. 电子半导体设备的长期储存. 第4部分: 储存

This part of IEC 62435 specifies long-term storage methods and recommended conditions for long-term storage of electronic components including logistics, controls and security related to the storage facility. Long-term storage refers to a duration that may be more than 12 months for products scheduled for long duration storage. The philosophy of such storage, good working practices and general means to facilitate the successful long-term storage of electronic components are also addressed.

Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage

DIN EN 60747-16-3:2018 半导体装置.第16-3部分:微波集成电路.频率转换器(IEC 60747-16-3-2002+A1-2009+ A2-2017);德文版本EN 60747-16-3-2002+A1-2009+A2-2017

This part of IEC 60747 provides new measuring methods, terminology and letter symbols, as well as essential ratings and characteristics for integrated circuit microwave frequency converters.

Semiconductor devices - Part 16-3: Microwave integrated circuits - Frequency converters (IEC 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017); German version EN 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017