产品规格：分辨率扫描透射暗场像82pm（加速电压200kV、肖特基场发射电子枪）78pm（加速电压200kV、冷场发射电子枪）透射像（点分辨率）190pm（加速......
产品特点：JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。STEM-HAA......
JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款......
在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Appli......
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子......
主要特点：1.高衬度物镜极靴，非常适合低衬度样品观察 2.简单友好的操作界面 3.操作导航器软件内置 4.5轴马达驱动样品台......
技术参数：1.晶格分辨率：0.20nm 2.加速电压40kV～120kV 3.电子枪：冷束电子枪 4.灯丝：钨灯丝或LaB6......
仪器简介： JEM-1400Plus搭载一体化数字成像系统，操作软件极为友好，初学者容易操作。JEM-1400标配动画式导航器Jenie，直接指导仪器......
仪器简介： JEM-1400Plus采用zei新高衬度物镜极靴，非常适用于医学、生物学、临床、免疫、药品、食品、高分子等专业等低衬度样品观察。&nbs......
仪器简介：2013年8月日本电子株式会社全球同步推出120kV高衬度透射电镜JEM-1400Plus。 JEM-1400Plus采用ze......
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信......
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象、失真甚至某些信......
产品规格物镜种类*1极高分辨率（UHR）型高分辨率（HR）型样品高倾斜（HT）型样品冷却（CR）型......
产品特点JEM-2200FS分析型电子显微镜配备场发射电子枪和Ω型内置式能量过滤器(Omega过滤器)。 利用过滤器的功能，不仅可以进行样品中的元素分析，还能分......
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象......
分辨率*1STEM HAADF 图像: 70 pm (200 kV)、100 pm (80 kV)TEM 信息分辨率: 100 pm (200 kV)、110 ......
主要特点： ◇ 自动像差校正软件JEOL COSMO™（Corrector System Module）JEOL COSMO™采用了全新像差......
主要特点： ◇ 球差校正器ASCOR（Advanced STEM Corrector）“NEOARM”配备的新型球差校正器ASCOR能够校正......
为了响应近来已成为主流的远程操作的需求，NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式，主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色，设计精炼时尚。主要特点：......
“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的......
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