软X射线分析谱仪软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相......
JXA-iHP200F场发射电子探针显微分析仪2003年日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针(FE-EPMA),此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领......
技术规格:检测元素范围WDS:(Be)*1 /B~U, EDS:B~UX射线检测范围WDS检测的波长范围: 0.087~9.3nm,EDS EDS检......
用户菜单(User recipes)能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件,菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。EPMA快速启动点......
EPMA快速启动点击任何一点,就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。用户菜单(User recipes)能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条......
产品特点:可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个......
多功能样品室样品室的可扩展性强,配备了样品交换室,可以安装各种附件。 可以安装的附件• 电子背散射衍射系统(EBSD)• 阴极荧光检测系统• 软X射线分析谱仪•......
高级软件新开发了多种基于Windows操作系统的软件,其中包括:能使痕量元素分析更加简便的“痕量元素分析程序”、能自动制作相图的“相图制作器”以及只需简单输入就......
全自动进样系统操作简单高效。肖特基场发射电子探针PlusJXA-iHP200F采用浸没式肖特基场发射电子枪,优化了角电流密度,能利用2 μA以上的大探针电流进行......
肖特基场发射电子探针PlusJXA-iHP200F采用浸没式肖特基场发射电子枪,优化了角电流密度,能利用2 μA以上的大探针电流进行分析,还提高了分析条件下的二......
JXA-iHP200F场发射电子探针显微分析仪2003年日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针(FE-EPMA),此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领......
产品规格:能量分辨率0.3eV(Al-L 光谱图73eV处测试)获取能量范围:衍射光栅JS50XL的能区50-170eV获取能量范围:衍射光栅JS50XL的能区......
产品特点:锂离子二次电池(LIB)分析实例能观察到LIB的充电量 充满电后Li-K样品的谱图说明: 由于理论上的原因,氧化锂的检测很困难轻元素的测试实......
产品特点:系统简介zei新开发设计的分光系统,不需移动衍射光栅或检测器(CCD)就能同时获取不同能量的谱图。而且由于能量分辨率很高,还可以采集状态分析分佈图SX......
产品特点:软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实......
软X射线分析谱仪软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相......