HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪

仪器简介：
 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃至几十微米。此外，还可以测试材料的反射率及透过率。

技术参数：

       * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm）
       * 微光斑可选50µm-100µm-1mm
       * 探测器：分别针对紫外，可见和近红外提供优化的PMT和IGA探测器
       * 自动样品台尺寸：多种样品台可选
       * 自动量角器：变角范围40° - 90°，全自动调整，小步长0.01°

主要特点：
       * 50KHz 高频PEM 相调制技术，测量光路中无运动部件
       * 具备超薄膜所需的测量精度，超厚膜所需的高光谱分辨率
       * 具有毫秒级超快动态采集模式，可用于在线实时监测
       * 自动平台样品扫描成像、变温台、电化学反应池、液体池、密封池等多种附件
       * 配置灵活  

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途