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铂悦仪器（上海）有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | MProbe NIR |
| 品牌： | semiconsoft | 产地： | 美国 |
| 关注度： | 73 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 产地类别 | 进口 | 供应商性质 | 区域代理 |
| 价格范围 | 1万-5万 |
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采用近红外光谱(NIR)的薄膜测厚仪，可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域，比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域，比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。
测量范围: 100 nm -200um
波长范围: 900 nm -2500 nm
适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
测量指标：薄膜厚度，光学常数
界面友好强大: 一键式测量和分析。
实用的工具：曲线拟合和灵敏度分析，背景和变形校正，连接层和材料，多样品测量，动态测量和产线批量处理。
系统性能参数：
技术参数：
MProbe NIR薄膜测厚仪信息由铂悦仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于MProbe NIR薄膜测厚仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
