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膜厚测量仪

参考报价: 面议 型号: -
品牌: 半球 产地: 日本
关注度: 14 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
供应商性质总代理产地类别进口
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产品特点:                                                           

? 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析。

? 高性能的低价光学薄膜测量仪。

? 藉由绝对反射率光谱分析膜厚。

? 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。

? 无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手。

? 非线性最小平方法解析光学常数(n:折射率、k:消光系数)。


产品规格:                                                            

型号FE-300VFE-300UVFE-300NIR
对应膜厚标准型薄膜型厚膜型超厚膜型
样品尺寸最大8寸晶圆(厚度5mm)


膜厚范围100nm~40μm10nm~20μm3μm~30μm15μm~1.5mm
波长范围450nm~780nm300nm~800nm900nm~1600nm1470nm~1600nm
膜厚精度±0.2nm以内±0.2nm以内--
重复再现性(2σ)0.1nm以内0.1nm以内--
测量时间0.1s~10s以内


测量口径约Φ3mm


光源卤素灯UV用D2灯卤素灯卤素灯
通讯界面USB


尺寸重量280(W)×570(D)×350(H)mm,约24kg


软件功能



标准功能波峰波谷解析、FFT解析、最适化法解析、最小二乘法解析


选配功能材料分析软件、薄膜模型解析、标准片解析


 应用范围:                                                            

? 半导体晶圆膜(光阻、SOI、SiO2等)

? 光学薄膜(OC膜、AR膜、ITO、IZO膜等)


应用范例:                                                            

? PET基板上的DLC膜

? Si基板上的SiNx


膜厚测量仪信息由上海瞬渺光电技术有限公司为您提供,如您想了解更多关于膜厚测量仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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