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反射式膜厚测量仪

参考报价: 面议 型号: 0
品牌: 半球 产地: 日本
关注度: 68 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

产品特点:                                                              

? 非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。

? 高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱,分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率,k消光系数)。

? 宽阔的波长测量范围。(190nm-1100nm)

? 薄膜到厚膜的膜厚测量范围。(1nm~250μm)

? 对应显微镜下的微距测量口径。


产品规格:                                                              


标准型

厚膜专用型


膜存测量范围

1nm~40μm

0.8μm~250μm


波长测量范围

190~1100nm

750~850nm


感光元件

PDA 512ch(电子制冷)

CCD 512ch(电子制冷)

PDA 512ch(电子制冷)

光源规格

D2(紫外线)、12(可见光)、D2+12(紫外-可见光)

12(可见光)


电源规格

AC 100V±10V 750VA(自动样品台规格)



尺寸

4810(H)×770(D)×714(W)mm(自动样品台规格之主体部分)



重量

约96kg(自动样品台规格之主体部分)




 应用范围:                                                              

FPD

   -LCD、TFT、OLED(有机EL)

半导体、复合半导体

   -矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料

资料储存

   -DVD、磁头薄膜、磁性材料

光学材料

   -滤光片、抗反射膜

平面显示器

   -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED

薄膜

   -AR膜

其他

   -建筑用材料


测量范围:                                                              

玻璃上的二氧化钛膜厚、膜质分析


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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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