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椭圆偏光膜厚测量仪(手动)

参考报价: 面议 型号: 1
品牌: 半球 产地: 日本
关注度: 14 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
供应商性质总代理产地类别进口
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产品特点:                                                           

? 400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。

? 自动变更反射测量角度,可得到更详细的薄膜解析数据。

? 采用正弦杆自动驱动方式,展现测量角度变更时优异的移动精度。

? 搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。

? 可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。


产品规格:                                                            

样品对应尺寸100×100mm
测量方式偏光片元件回转方式
入射/反射角度范围45~90o
入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更
波长测量范围300~800nm
分光元件Poly-chrometer
尺寸650(H)×400(D)×560(W)mm
重量约50kg


椭圆偏光膜厚测量仪(手动)信息由上海瞬渺光电技术有限公司为您提供,如您想了解更多关于椭圆偏光膜厚测量仪(手动)报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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