自动光学检验AOI设备 三维集成电路半导体检测仪Camtek

CAMTEK 自动光学检验AOI设备为三维集成电路Camtek灵活平台提供各种技术解决复杂步骤3dic发展和生产的需要。
我们的完全自动化的2d和3d测量和缺陷检测能力覆盖了最先进的产业需求，并解决产业路线图。
该系统包括数据分析工具，可实现过程监控和提高产量。
功能:
• 高容量整片肿块2d和3d检查和计量
• 层厚度测量
• 调整层之间
• 覆盖测量
• 高分辨率CD测量
• 表面相关缺陷检查
• TSVCD测量
• 通过了检验
• 通过揭示/指甲高度和co-planarity测量
• RDL检验和计量技术
• Camtek独特的白光三角测量传感器
• 先进的缺陷检测和计量处理引擎
• 高分辨率三维共焦传感器
• 光干涉测量技术对3d产品
Eagle-APEagle-AP提供2d和3d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。
EagleT-AP为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2d和3d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。
咨询：18263262536（微信同号）

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途