电镜设备的规格
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半导体应用规格
适用于半导体行业的 Helios 5 DualBeam 规格
Helios 5 CX | Helios 5 HP | Helios 5 UX | Helios 5 HX | Helios 5 FX | ||
工作准备和 XHR SEM 成像 | 最终样品制备(TEM 片层、APT) | 埃米级 STEM 成像和样品制备 | ||||
SEM | 分辨率 | 20 eV – 30 keV | 20 eV – 30 keV | |||
着陆能量 | 0.6 nm @ 15 keV 1.0 nm @ 1 keV | 0.6 nm @ 2 keV 0.7 nm @ 1 keV 1.0 nm @ 500 eV | ||||
STEM | 分辨率 @ 30 keV | 0.7 nm | 0.6 nm | 0.3 nm | ||
FIB 制备工艺 | 最大物料去除率 | 65 nA | 100 nA | 65 nA | ||
最佳最终抛光 | 2 kV | 500 V | ||||
TEM 样品制备 | 样品厚度 | 50 nm | 15 nm | 7 nm | ||
自动化 | 否 | 是 | 是 | |||
样品处理 | 行程 | 110 x 110 x 65 mm | 110 x 110 x 65 mm | 150 x 150 x 10 mm | 100 x 100 x 20 mm | 100 x 100 x 20 mm + 5 轴 (S)TEM 计算机阶段 |
加载锁 | 手动快速加载器 | 自动 | 手动快速加载器 | 自动 | 自动 + 自动插入/拔出 STEM 杆 |
材料科学应用规格
用于材料科学的 Helios 5 DualBeam 的规格
Helios 5 CX | Helios 5 UC | Helios 5 UX | ||
离子光学系统 | 具有出色的高电流性能的 Tomahawk HT 离子柱 | 具有卓越高电流和低电压性能的 Phoenix 离子镜筒 | ||
离子束电流范围 | 1 pA – 100 nA | 1 pA – 65 nA | ||
加速电压范围 | 500 V – 30 kV | 500 V – 30 kV | ||
最大水平射野宽度 | 在光束重合点处为 0.9 mm | 在光束重合点处为 0.7 mm | ||
最小离子源寿命 | 1,000 小时 | 1,000 小时 | ||
两级差速抽气 飞行时间 (TOF) 校正 15 位置光阑条 | 两级差速抽气 飞行时间 (TOF) 校正 15 位置光阑条 | |||
电子光学系统 | Elstar 超高分辨率场发射 SEM 镜筒 | Elstar 极高分辨率场发射 SEM 镜筒 | ||
磁性浸没物镜 | 磁性浸没物镜 | |||
可提供稳定的高分辨率分析电流的高稳定性肖特基场发射枪 | 可提供稳定的高分辨率分析电流的高稳定性肖特基场发射枪 | |||
电子束分辨率 | 最佳工作距离 (WD) 下 | 30 kV (STEM) 时 0.6 nm 15 kV 时 0.6 nm 1 kV 时 1.0 nm 1 kV(射束减速*)时为 0.9 nm | 30 kV (STEM) 时 0.6 nm 1 kV 时 0.7 nm 500 V (ICD) 时 1.0 nm | |
重合点上 | 15 kV 时 0.6 nm 1 kV(射束减速*和 DBS*)时为 1.5 nm | 15 kV 时 0.6 nm 1 kV 时 1.2 nm | ||
电子束参数空间 | 电子束电流范围 | 0.8 pA 至 176 nA | 0.8 pA 至 100 nA | |
加速电压范围 | 200 V – 30 kV | 350 V – 30 kV | ||
着陆能量范围 | 20 eV – 30 keV | 20 eV – 30 keV | ||
最大水平射野宽度 | 4 mm WD 时 2.3 mm | 4 mm WD 时 2.3 mm | ||
检测器 | Elstar 镜筒内 SE/BSE 检测器(TLD-SE、TLD-BSE) | |||
Elstar 色谱柱内 SE/BSE 检测器 (ICD)* | ||||
Elstar 色谱柱内 BSE 检测器 (MD)* | ||||
Everhart-Thornley SE 检测器 (ETD) | ||||
查看样品/色谱柱的 IR 摄像机 | ||||
用于二级离子 (SI) 和二级电子 (SE) 的高性能腔室内电子和离子检测器 (ICE)* | ||||
用于样品导航的 Thermo Scientific 腔室内 Nav-Cam 摄像机* | ||||
可伸缩、低电压、高对比度、定向、固态反向散射电子检测器 (DBS)* | ||||
带 BF/DF/HAADF 分段的可伸缩 STEM 3+ 检测器* | ||||
集成的等离子束电流测量 | ||||
载物台和样品 | 载物台 | 灵活的 5 轴电动载物台 | 高精度五轴电动载物台,配有压电驱动的 XYR 轴 | |
XY 范围 | 110 mm | 150 mm | ||
Z 范围 | 65 mm | 10 mm | ||
旋转 | 360°(无限) | 360°(无限) | ||
倾斜范围 | -15° 至 +90° | -10° 至 +60° | ||
最大样品高度 | 与共心点间距 85 mm | 与共心点间距 55 mm | ||
最大样品重量 | 500 g,任何载物台位置上 0° 倾斜下最高 5 千克(适用某些限制) | 500 g(包括样品架) | ||
最大样品尺寸 | 完全旋转时 110 mm(也可以是更大的样品,但旋转有限) | 完全旋转时 150 mm(也可以是更大的样品,但旋转有限) | ||
计算中心旋转和倾斜 | 计算中心旋转和倾斜 |
* 可选配,取决于配置
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经销商
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FIB-SEM双束聚焦扫描电镜
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