Helios 5 PFIB DualBeam聚焦离子束扫描电子显微镜
tel: 400-6699-117 转 8899赛默飞FIB-SEM双束聚焦扫描电镜, 用于 TEM 样品制备（包括 3D 表征、横截面成像和微加工）的等离子体聚焦离子束扫描电子显微镜。......
在线客服 
产品型号：Helios 5 PFIB DualBeam
品牌：赛默飞
产品产地：捷克
产品类型：进口
原制造商：赛默飞
状态：在售
厂商指导价格： 500~600万元[人民币]
上市时间： 2021-04-21
英文名称：Helios 5 PFIB DualBeam
优点：用于 TEM 样品制备（包括 3D 表征、横截面成像和微加工）的等离子体聚焦离子束扫描电子显微镜。
参考成交价格： 500~600万元[人民币]
FIB-SEM双束聚焦扫描电镜
其他推荐
厂家资料
地址：上海市浦东新区张江高科技园区盛夏路399号8号楼
电话：400-6699-117 转 8899
经销商
|
除厂家/中国总经销商外，我们找不到 Helios 5 PFIB DualBeam聚焦离子束扫描电子显微镜 的一般经销商信息，有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是，请告诉我们，我们的邮件地址是：sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商，都可参与登记，我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- GB/T 38783-2020 贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法
- SY/T 7410.2-2020 岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分：聚焦离子束切片法
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜（TIFF/SEM）的标记图像文件格式
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
- T/BSPT 002-2018 微纳加工 离子束辐照应变诱导三维纳米结构与器件的加工方法
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析扫描电子显微镜词汇
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.扫描电子显微镜.术语
- GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法