Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜
tel: 400-6699-117 转 8899赛默飞FIB-SEM双束聚焦扫描电镜, 用于半导体工业的 FIB-SEM TEM 样品制备,可实现全晶圆分析......
在线客服
产品型号:Helios 5 EXL DualBeam
品牌:赛默飞
产品产地:捷克
产品类型:进口
原制造商:赛默飞
状态:在售
厂商指导价格: 400~500万元[人民币]
上市时间: 2021-04-21
英文名称:Helios 5 EXL DualBeam FIB-SEM
优点:用于半导体工业的 FIB-SEM TEM 样品制备,可实现全晶圆分析
参考成交价格: 400~500万元[人民币]
查中标价仪器导购
FIB-SEM双束聚焦扫描电镜
其他推荐
厂家资料
地址:上海市浦东新区张江高科技园区盛夏路399号8号楼
电话:400-6699-117 转 8899
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- GB/T 38783-2020 贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法
- GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜(TIFF/SEM)的标记图像文件格式
- GB/T 41074-2021 微束分析 用于波谱和能谱分析的粉末试样制备方法
- GB/T 28873-2012 纳米颗粒生物形貌效应的环境扫描电子显微镜检测方法通则
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
- GB/T 17362-1998 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法
- ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析扫描电子显微镜词汇
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇