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FAST-EM超快电子显微镜

tel: 400-6699-117 1000

DelmicFIB-SEM双束聚焦扫描电镜, 超快的自动多束电子显微镜,旨在使复 杂且大型的显微观测项目变得简单高效。......

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简介

FAST-EM是一款超快的自动多束电子显微镜,旨在使复 杂且大型的显微观测项目变得简单高效。FAST-EM具有 自动数据采集功能,因此这种高通量系统非常适合对大 型或多个样本进行成像以进行定量分析。系统提供强大 的显微成像能力,同时极大地简化工作流程,使用户可 以将工作重点从显微镜操作转移到真正高价值的数据分 析上。

FAST-EM可用于探索细胞结构,神经元回路网络以及生 命科学中的各种生物材料的分析。对于大规模3D结构解 析以及批量2D成像都十分有帮助。另外作为通用工具, 还可以显著加快日常其他常规显微成像工作的速度。


64束电子显微成像

为了实现高通量成像,FAST-EM使用64 束独立电子束。这些光束在样品上并行扫 描,并使用高速、高灵敏的硅光电倍增管 (SiPM)阵列记录光信号。这种方法可 以显着提高数据采集速度


缩短驻留时间

FAST-EM系统基于扫描透射电子显微镜 (STEM),将样品直接放在闪烁屏上, 使用STEM模式进行成像。闪烁体在受 到透过样品的电子撞击时会产生局域阴 极发光,利用高速高灵敏硅光电倍增管 (SiPM)阵列检测所得的光,并对其进 行处理获得最终的灰度图像。即使在短至 400 ns的驻留时间,独特的检测系统能获 得优异的信噪比。


自动化软件

使用强大的自动化功能和人性化原生软 件,您可实现轻松创建和管理FAST-EM 成像项目。

可靠的显微系统和强大的自动化软件的 应用,操作员再也无需对电镜保姆式的 照管,系统可自动持续可靠运行。


一次加载多个样品

在电镜的工作流程中,主要消耗的辅助时 间主要是样品的更换。这意味着操作员必 须经常中断成像过程, 更换样品,等待 真空度到达工作状态,造成过多等待时 间。 FAST-EM允许同时装载多达九个基 板,每个基板可容纳数十个甚至数百个 超薄切片。一次装样,轻松实现长达72 小时的连续成像。



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地址:苏州市高铁新城相城大道长三角国际研发社区409室

电话:400-6699-117 转 1000

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