日本 PNP Tera Evaluator太赫兹时域光谱仪
tel: 400-6699-117 转 1000贝拓科学太赫兹光谱仪, 第一个商用的非接触式测量4和6英寸晶片的太赫兹时域光谱测量系统。 它可以适应所有半导体材料! 这是一个新的太赫兹时间......
在线客服 
产品型号：Tera Evaluator
品牌：贝拓科学
产品产地：日本
产品类型：进口
原制造商：日本PNP
状态：在售
厂商指导价格： 50~100万元[人民币]
上市时间： 2011年
英文名称：Tera Evaluator
优点：第一个商用的非接触式测量4和6英寸晶片的太赫兹时域光谱测量系统。 它可以适应所有半导体材料! 这是一个新的太赫兹时间域光谱仪, 它介绍了与太赫兹光谱学相结合的椭偏测量。 反射光学的使用使其zei适合于不透明材料的测量。
参考成交价格： 50~100万元[人民币]
仪器导购
太赫兹光谱仪
其他推荐
经销商
| 经销商 | 电话 | 咨询 |
|---|---|---|
| 日本PNP/广州贝拓科学技术有限公司 | 400-6699-117 转 1000 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商，都可参与登记，我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- T/CSTM 00416-2023 无损检测 太赫兹时域光谱检测和评价方法
- T/SATA 059-2023 太赫兹光谱数据库数据格式规范
- T/GDGAA 0005-2022 太赫兹光谱食品药品测定通用方法
- JJF 1603-2016 (0.1~2.5)THz太赫兹光谱仪校准规范
- AIR FORCE A-A-59112 A-2002 100赫兹至1.8千兆赫频谱分析仪
- VDI/VDE 5590 BLATT 1-2018 太赫兹系统 术语
- PD IEC TS 62607-6-10:2021 纳米制造 关键控制特性 石墨烯基材料 方块电阻：太赫兹时域光谱
- T/CSTM 00433-2023 无损检测 莫来石纤维复合材料胶接界面 太赫兹时域光谱检测方法
- VDI/VDE 5590 BLATT 1-2016 太赫兹系统 术语和定义
- VDI/VDE 5590 BLATT 2-2018 太赫兹系统 应用和系统
