技术特点
【技术特点】-- ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜
ULTRA 55SE
成像与测量工作站
主要特点:
ULTRA——zei佳的成像工具
看得更多——超高分辨率的SE与BSE同步成像
看得更清——精确的zei佳成像能力
看得更细——纳米尺度上进行组分分析的利器
简便易用——全面集成的镜筒内置式背散射电子探测器(EsB)和二次电子探测器(In-lens detector)
远离荷电——Ultra plus中安装有荷电补偿器,实现了不导电样品的清晰、精确成像
【技术特点对用户带来的好处】-- ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜
【典型应用举例】-- ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
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扫描电镜SEM
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