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Scios DualBeam 电子显微镜

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FEI扫描电镜SEM, Scios DualBeam FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统,能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性,非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。

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