我的咨询

您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?

稍后再说 立即咨询
咨询列表
X
头像

客服中心

如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息

400-6699-117转1000
发布求购 平台客服
扫码下载
"来会会"App
扫码关注
分析测试百科网
您现在所在的位置:首页 >> 仪器导购 >> X射线荧光测厚仪>> 博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列

tel: 400-6699-117 1000

优尼康X射线荧光测厚仪, 博曼O系列产品概述: O系列采用毛细管光学结构,拥有精准的测试性能,同时能实现极小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号,可以有效提高到达样品表面的入射X射线强度。O系列配备高分辨率的SDD探测器,在短时间内捕捉并处理大量数据,在短时间内满足极小斑点的测量的同时获取精准的测量结果(准确性和重复性)。 该系列采用80μm毛细管光学结构,同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。O系列的相机具有更大的放大倍数,拥有45x视频放大和5x数码变焦。一个可编程的XY样品台也是标准配置。O系列的焦距非常接近,所以使用时样品必须平整。

咨询留言

博曼O系列可满足以下类型用户的需求:

- 极小的样品,如半导体,连接器或PCB

- 需要测试多个样品的多个位置

- 需要测量非常薄的涂层(<100nm)

- 需要在短时间内完成测量(1-5秒)

- 符合IPC-4552A

 

博曼O系列产品参数:

类别

参数

元素测量范围:

X射线管:

探测器:

分析层数及元素数:

滤波器/准直器:

焦距:

数字脉冲器:

计算机:


相机:

电源:

重量:

可编程XY平台:

样品仓尺寸:

外形尺寸:

13号铝元素到92号铀元素

50 W钼钯射线管 80um毛细管光学结构

135eV及以上分辨率的硅漂移探测器

5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析zei多可分析25种元素

2位置一次过滤器

固定焦距(0.1“)

4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正

英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位

1 / 4“CMOS-1280×720 VGA分辨率,250X双摄像头或45X单摄像头

150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz

53kg

平台尺寸:15“x 13“| 行程:6“x 5“

高度:140mm(5.5“),宽度:310mm(12“),深度:340mm(13“)

高度:450mm(18“),宽度:450mm(18“),深度:600mm(24“)


售后服务

我会维修/培训/做方法

如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。

1该产品的品牌知名度如何?
2你对该产品的使用感受如何?
3该产品的性价比如何?
4该产品的售务如何?
查看
在线咨询

在线咨询时间:

周一至周五

早9:00 - 晚17:30

若您在周六周日咨询,请直接留言您所咨询的产品名称+联系人+电话