博曼O系列可满足以下类型用户的需求:
- 极小的样品,如半导体,连接器或PCB
- 需要测试多个样品的多个位置
- 需要测量非常薄的涂层(<100nm)
- 需要在短时间内完成测量(1-5秒)
- 符合IPC-4552A
博曼O系列产品参数:
类别 | 参数 |
元素测量范围: X射线管: 探测器: 分析层数及元素数: 滤波器/准直器: 焦距: 数字脉冲器: 计算机: 相机: 电源: 重量: 可编程XY平台: 样品仓尺寸: 外形尺寸: | 13号铝元素到92号铀元素 50 W钼钯射线管 80um毛细管光学结构 135eV及以上分辨率的硅漂移探测器 5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析zei多可分析25种元素 2位置一次过滤器 固定焦距(0.1“) 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位 1 / 4“CMOS-1280×720 VGA分辨率,250X双摄像头或45X单摄像头 150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz 53kg 平台尺寸:15“x 13“| 行程:6“x 5“ 高度:140mm(5.5“),宽度:310mm(12“),深度:340mm(13“) 高度:450mm(18“),宽度:450mm(18“),深度:600mm(24“) |
售后服务
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