扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM
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MVI扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM, 有别于传统的扫描近场光学显微镜,Vista-SNOM基于zl的光诱导力显微镜(Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术,通过检测探针与样品之间的偶极交互直接获得样品表面的场强分布,无需远场光学探测器。这不仅杜绝了远场信号的干扰,也无需像SNOM那样配置多个不同波段光学探测器。光诱导力显微镜的检测端可无缝适应紫外~射频,用户仅需考虑如何将激发光激发至样品。
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