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F20 薄膜厚度测量仪

tel: 400-6699-117 7212

美商菲乐白光干涉测厚仪, 不论您是想要知道薄膜厚度、光学常熟,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。

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膜层范例

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。

这包括几乎所有的电介质与半导体材料,例如:

SiNX

TiO2

DLC

光刻胶SU-8

聚合物

有机电致发光器AIQ材料

非晶硅

ITO

硒化铜铟镓CIGS

                   

   

           膜厚测量仪|光学轮廓仪|Filmetrics|优尼康|粗糙度测量        


    

厚度测量范围

膜厚测量仪|光学轮廓仪|Filmetrics|优尼康|粗糙度测量



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地址:北京市朝阳区双营路11号院4号楼4层4单元501

电话:400-6699-117 转 7212

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