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技术特点
【技术特点】-- PHL膜厚测量椭偏仪 ME-210（-T）
以往的椭偏仪是单点测试，因此要取得整面膜厚均匀性数据是需要N个小时的工作，而且最小的测量分辨率就是激光光斑大小，也就是说，无法取得微小区域的膜厚分布数据。
ME-210是采用独自开发的微小偏光阵列片来克服上述两大问题的设备。
ME-210能做的就是：
能以快速取得最大12inch基板上的膜厚分布
能以高分辨率取得微小区域的膜厚分布（设备最高分辨率为5.5um*5.5um）
设备软件具有模拟功能，因此能比对模拟值与实际值来评估成膜工艺
透明基板的膜厚测量
【技术特点对用户带来的好处】-- PHL膜厚测量椭偏仪 ME-210（-T）
【典型应用举例】-- PHL膜厚测量椭偏仪 ME-210（-T）
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