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PHL膜厚测量椭偏仪 ME-210(-T)

tel: 400-6699-117 1000

PHOTONIC LATTICE椭偏仪, 以往的椭偏仪是单点测试,因此要取得整面膜厚均匀性数据是需要N个小时的工作,而且最小的测量分辨率就是激光光斑大小,也就是说,无法取得微小区域的膜厚分布数据。

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