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集成电路 IC 卡温度冲击测试机|伯东

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inTEST- Temptronic高低温冲击试验箱/冷热冲击试验箱, 集成电路 IC 卡高低温测试原因:集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试,用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能,inTEST-Temptronic高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试

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集成电路 IC 卡温度冲击测试机|伯东

  • inTEST- Temptronic  Temptronic ATS系列
  • inTEST- Temptronic  Temptronic ATS系列

产品型号: Temptronic ATS系列

品牌:inTEST- Temptronic

产品产地:美国

产品类型:进口

原制造商:inTEST- Temptronic

状态:在售

厂商指导价格:未提供

上市时间: 2015-05-13

英文名称: Temptronic ATS系列

优点:集成电路 IC 卡高低温测试原因:集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试,用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能,inTEST-Temptronic高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试

参考成交价格: 20~50万元[人民币]

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    厂家资料

    地址:上海 上海市外高桥保税区希雅路33号17号楼B座3层

    电话:400-6699-117 转 1000

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