膜厚测量仪
tel: 400-6699-117 转 1000半球半导体专用检测仪器设备, 产品特点: ? 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析。? 高性能的低价光学薄膜测量仪。? 藉由绝对反射率光谱分析膜厚。? 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。? 无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手。? 非线性最小平方法解析光学常数(n:折射率、k:消光系数)。
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产品型号:-
品牌:半球
产品产地:日本
产品类型:进口
原制造商:半球
状态:在售
厂商指导价格:未提供
上市时间: 2015-03-31
优点:产品特点: ? 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析。? 高性能的低价光学薄膜测量仪。? 藉由绝对反射率光谱分析膜厚。? 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。? 无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手。? 非线性最小平方法解析光学常数(n:折射率、k:消光系数)。
参考成交价格: 1~50000元[人民币]
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