技术特点
【技术特点】-- 博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列
博曼L系列产品概述:
L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件,L系列是必备品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。 封闭式样品仓可容纳12“x22“x24“(LxWxH)的样品。XY平台的行程为13“x10“。
标准配置包括一个4位置多准直器组件,以及一个可在凹陷区域进行测量的变焦相机。 与其他型号一样,准直器尺寸和焦距可根据不同的客户应用进行定制。 包括可编程的XY平台,为了满足更大样品测测量,XY平台可以移除。探测器采用硅PIN半导体探测器,可升级为高性能SDD探测器。
博曼L系列可满足以下类型用户的需求:
- 样品的长宽高分别超过12“但小于24“
- 需容纳多个样品进行自动化多点测量
- 可扩展到更大尺寸的样品,用于未来的项目
- 符合IPC-4552A
【技术特点对用户带来的好处】-- 博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列
【典型应用举例】-- 博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列
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