Nano System/安柏来科学仪器（上海）有限公司X射线荧光测厚仪参数

Nano System/安柏来科学仪器（上海）有限公司

• 型号G系列
• 中文简称G系列 XRF镀层测厚仪
• 英文简称Series gxrf coating thickness gauge
• 产地美国
• 上市时间2015年5月14日

Nano System/安柏来科学仪器（上海）有限公司

• 型号B系列
• 中文简称博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 B系列
• 英文简称B系列
• 产地美国
• 上市时间2016年5月13日

Nano System/安柏来科学仪器（上海）有限公司

• 型号P系列
• 中文简称博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 P系列
• 英文简称P系列
• 产地美国
• 上市时间2015年5月14日

Nano System/安柏来科学仪器（上海）有限公司

• 型号 O系列
• 中文简称博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 O系列
• 英文简称 O系列
• 产地美国
• 上市时间2015年5月15日

Nano System/安柏来科学仪器（上海）有限公司

• 型号L系列
• 中文简称博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 L系列
• 英文简称L系列
• 产地美国
• 上市时间2016年5月12日

Nano System/安柏来科学仪器（上海）有限公司

• 型号W系列
• 中文简称博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 W系列
• 英文简称W系列
• 产地美国
• 上市时间2016年5月20日